CHERSCOPE®X-RAY XUL®
CHERSCOPE®X-RAY XUL®XYm
X射线光谱仪，用于厚度测量和成分分析
CHERSCOPE X-RAY
简介
CHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它
结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于测量镀层厚度和成分分析。
比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高测量。由于采用了cher基本
参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，在没有标准片的情况下进行准确
分析和测量。可测量的元素范围从氯（17）到铀（92）。
XUL型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。
本款仪器适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
典型的应用领域有：
在小部件如螺钉、螺栓和螺帽上的测量
在连接器和电气元件上的测量
电镀液的溶液成分分析
设计理念
CHERSCOPE X-RAY XUL设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。根
据使用用途，有以下两种不同版本型号，分别对应不同的样品平台：
XUL：
固定平面平台
XUL XYm：手动X/Y平台
高分辨的彩色摄像头配以强大的放大功能，可以定位测量位置。
尽管仪器本身结构紧凑，但是由于XUL光谱仪配备了宽敞的测量室，从而可以测量更
大体积的样品。
外罩底部留下了空隙，可方便地测量出测量室大小的大尺寸扁平样品，如大面积的
印制线路板等。
®
测量结果的数据分析和相关信息的显示等。
XUL型光谱仪是而保护的测量仪器，型式许可合德国”Deutsche
Röntgenverordnung-RöV”法令要求。
CHERSCOPE®X-RAY XUL®
通过强大而界面友好的WinFTM软件，可以在电脑上便捷地完成整个测量过程，包括 |
通用规范
用途
可测量元素范围
设计理念
测量方向
X射线源
X射线靶材
高压
孔径（准直器）
测量点大小
测量距离，如样品为腔体时
能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)用于测量镀层厚度和材料分析
从氯（17）到铀（92），如使用选配的WinFTM®BASIC，可多同时测量24种元素
台式仪器，测量门向上开启由下往上
带铍窗口的钨靶射线管
三种可调高压：30 kV，40 kV，50 kV
圆形Ø 0.3mm，（可选配置：矩形0.3 mm x 0.05 mm）
取决于测量距离和使用的准直器的大小，视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸，
小的测量点面积约为Ø 0.51 mm。
使用保护的DCM（测量距离补偿法）功能：
测量距离为0 ~ 20 mm时，为已校准范围；
测量距离为20 ~ 27.5 mm时，为非校准范围。
X射线探测
X射线接收器
二次滤波器
样品定位
视频显微镜
放大倍数
比例接收器
可选：钴滤波器或镍滤波器
高分辨率CCD彩色摄像头，可用来观察测量位置
十字线带有刻度尺和测量点指示装置
测量区域的LED照明亮度可调节
38 x ~184x (光学变焦: 38x ~ 46x;数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x)
样品台
设计
X/Y方向可移动范围
样品放置可用区域
样品重量
样品高度
电气参数
XUL
固定样品平台
-250 x 280mm
2kg
240mm
XUL XYm
手动XY平台
50 x 50 mm
电压，频率
AC 115 V或AC 230 V
50 / 60 Hz
功率
为120 W (测量头重量，不包括计算机)
CHERSCOPE®X-RAY XUL®
仪器规格
外部尺寸
重量
内部测量舱尺寸
环境要求
测量时温度
存储或运输时温度
空气相对湿度
计算系统
计算机
软件
宽x深x高[mm]：395 x 580 x 510
约45 kg
宽x深x高[mm]：360 x 380 x 240
10°C– 40°C / 50°F – 104°F
0°C– 50°C / 32°F – 122°F
≤ 95 %，无结露
带扩展卡的Windows®个人计算机系统
标准配置：cher WinFTM®LIGHT
执行标准
CE合格标准
X射线标准
型式许可
如有要求，可与cher磋商，定制的XUL型号。
