TK3580B型变频介质损耗测试仪是一种的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种缘材料、缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗，（tgδ）和电容容量（Cx）它淘汰了 QS 高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、干扰能力强、测试时间（在国内同类产品中速度快）等特点。体积小、重量轻的第二代干扰介质损耗测试仪。
变频介质损耗测试仪主要技术指标
1、环境温度：0 ～ 40℃（液晶屏应避免长时日照）
2、相对湿度：30% ～ 70%
3、供电电源：电压：220V&plun;10%、频率：50&plun;1Hz
4、外形尺寸：长×宽×高 500mm×300mm×400mm
5、重量： 约18Kg
6、输出功率：0.6KVA
7、显示分辩率：3位、4位（内部全是6位）
8、测量范围及输出电压选择：
介质损耗（tgδ）：&plun;0.00～&plun;999%
试品电容容量（Cx）和加载电压：
2.5KV档:≤300nF（300000pF） 3KV档:≤200nF（200000pF）
5KV档:≤76nF（76000pF） 7.5KV档:≤34nF（34000pF）
10KV档:≤20nF（20000pF）
9、基本测量误差：
介质损耗（tgδ）：1%&plun;7个字（加载电流20uA～500mA）
介质损耗（tgδ）：2%&plun;9个字（加载电流5uA～20uA）
电容容量（Cx）：1.5%&plun;1.5pF
公司：宝应县泰开电气设备厂
地址：江苏扬州市柳堡工业园区108号
联系人：雍 经 理
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