EDX-300能量色散X射线荧光光谱仪
主要特点
●用途广 欧盟RoHS指令和中国RoHS检测
任意固体，液体，粉末中Na－Ｕ元素分析
各种金属膜厚度测量、工业镀层厚度测量
●高 ppm的，1ppm等于分之一
●速度快 30秒～200秒
●成本低 无需化学处理，无需耗材,无需液氮
●易操作 一键式操作，无需知识，无人为误差
●不破坏 无需破坏产品
技术规格
仪器型号 | EDX-300 | |
分析原理 | 能量色散X射线荧光分析法 | |
分析范围 | Ca(11)-U(92)任意元素 | |
检出下限 | Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm | |
样品形状 | 任意大小，任何不规则形状 | |
样品类型 | 塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等 | |
X射线管 | 靶材 | 钼（Mo）靶 |
管电压 | 5─50KV | |
管电流 | 1─1000ｕA | |
探测器 | 美国AMP-TEK Si-PIN探测器，脉冲高度分析系统 | |
高压发生器 | 美国SPELLMAN高压发生器 | |
滤光片 | 8种滤光片自动选择并自动转换 | |
样品观察 | 500万彩色摄像机 | |
分析软件 | 软件产品 MS-V3.0版本，升级 | |
分析方法 | Alpha系数法、FP法、标准曲线法 | |
合规范 | IEC62321、 SNT 2003.4-2006 、SNT 2003.5-2006 |
