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EDX-900能量色散X射线荧光光谱仪
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主要特点
●分析元素范围 Na－Ｕ
●分析元素的浓度范围 ppm—100%
●整机稳定性连续8小时测RSD<0.25%
●&sp;RoHS/WEEE检测时间100-120秒
●美国原装高灵敏电制冷Si(Pin)探测器
●电制冷Si(Pin)探测器&sp;晶体面积15mm2分辨率<155eV
●全数字脉冲处理器技术
●复合滤光片智能切换技术
●镀层和薄膜测量技术
●优异的峰背比、高的痕量分析灵敏度
●分析不同类型样品参数自动设定，无需手动操作；
●大的分析管理软件，方便查询历史数据；
产品特征：
☆&sp;&sp;&sp;&sp;可分析分析氯元素和油漆中的多种元素
☆&sp;&sp;&sp;&sp;联动装置，软硬结合的辐射设计
☆&sp;&sp;&sp;&sp;操作简单、一键式操作
☆&sp;&sp;&sp;&sp;X射线管温保护
☆&sp;&sp;&sp;&sp;的异地测量功能
☆&sp;&sp;&sp;&sp;具备远程诊断和自动升级功能
&sp;技术规格
仪器型号 | EDX-900能量色散X射线荧光光谱仪 | |
分析原理 | 能量色散X射线荧光分析法 | |
分析范围 | Na(11)-U(92)任意元素 | |
检出下限 | Cl/Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2&sp;ppm | |
样品形状 | 任意大小，任何不规则形状 | |
样品类型 | 塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等 | |
X射线管 | 靶材 | 钼（Mo）靶 |
管电压 | 5─50KV | |
管电流 | 1─1000ｕA | |
探测器 | 美国AMP-TEK&sp;X-123&sp;&sp;Si-PIN探测器，脉冲高度分析系统 | |
高压发生器 | 美国SPELLMAN高压发生器 | |
滤光片 | 8种滤光片自动选择并自动转换 | |
样品观察 | 500万彩色摄像机 | |
分析软件 | 软件产品&sp;MS-V6.0版本，升级 | |
分析方法 | Alpha系数法（S-GSC法）、FP法、标准曲线法 | |
合规范 | IEC62321、&sp;SNT&sp;2003.4-2006&sp;、SNT&sp;2003.5-2006&sp; |
