K-2涂层测厚仪,膜厚仪
产品简介
本涂层测厚仪,膜厚仪采用了磁性和涡流测厚方法,可地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。本涂层测厚仪,膜厚仪具有测量误差小、性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和产品质量不可少的检测仪器,涂层测厚仪,膜厚仪广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
膜厚仪主要技术参数
型号 K-2
工作原理 电磁感应/电涡流
测量范围 0~1250um
测量 &plun;(3%H&plun;1.5)
显示 0~99.9um:0.1um/100um以上:1um
小基体 10*10 mm
小曲率 凸5mm;凹25mm
薄基体 0.5mm
环境温度 0℃~40℃
相对湿度 不过85%
电源 5号电池2节
机身尺寸 91*55*23mm
自动关机
附件:标准片5片
基体2块(K-2 2块基体)电池2块清洁布1块说明书1份保修卡1张