X-显微熔点仪
型号:x-4
应用范围:应用范围:测定物质的熔点。用于、化工、纺织、染料等晶体化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
【产品详情】
性能指标
熔点测量范围:室温至320℃
小读数:0.1℃
测量重复性:&plun;1℃(在<200℃时)
&plun;2℃(在200~300℃时)
配双目体视显微镜
光学放大倍数:40X-100X连续可调
咨询电话SERVICE LINE
86 0731 85505448
扫一扫
进入手机店铺
型号:x-4
应用范围:应用范围:测定物质的熔点。用于、化工、纺织、染料等晶体化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
性能指标
熔点测量范围:室温至320℃
小读数:0.1℃
测量重复性:&plun;1℃(在<200℃时)
&plun;2℃(在200~300℃时)
配双目体视显微镜
光学放大倍数:40X-100X连续可调