bowman镀金x荧光膜厚测试仪是一款的采用X-射线荧光方法和的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。
博曼膜厚测试仪的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件，包括线路板，芯片和连接器等带来的挑战。这种技术的，目前正在申请的X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射强度.
博曼膜厚测试仪专有X-射线光学设计使得能够在精细的结构上进行厚度测量和成分分析。可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构.
具有强大功能的X-射线 软件可以分析包含在金属镀层或合金镀层中多达24种元素的多镀层的厚度和成分。
博曼膜厚测试仪特点：
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层,合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便的控制品质.
博曼膜厚测试仪的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件，包括线路板，芯片和连接器等带来的挑战。这种技术的，目前正在申请的X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射强度.
博曼膜厚测试仪专有X-射线光学设计使得能够在精细的结构上进行厚度测量和成分分析。可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构.
具有强大功能的X-射线 软件可以分析包含在金属镀层或合金镀层中多达24种元素的多镀层的厚度和成分。
博曼膜厚测试仪特点：
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层,合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便的控制品质.
