| 用途:该试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二管、液晶LCD、芯片电阻电容、组件产业电子组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、件接脚氧化试验。微电脑温度控制器、LED数字显示，PID+SSR控制,白金电阻温度传感器（PT-100），分辨率0.1℃，全自动保护装置。 技术规格参数： 型号：ATM-SAC34 内部尺寸：500×400×170（W×H×D）mm ； 外部尺寸:600×500×420（W×H×D）mm ； 内外箱体材质：SUS304#优质不锈钢板； 保温层：PV发泡胶; 升温时间:大约40分钟 ；控制功能:PID+SSR,数字式显示； 蒸气温度: 97℃ ； 计时功能：1～9999分钟，附时到报警功能，时间到达后切断电源 ； 水位控制：附水箱自动补水 ； 电源：1Ø 220V&plun;10% 50Hz 3.0KW |
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