- 产品品牌：
- Horiba
- 产品型号：
- SZ100
- 类型：
- 纳米粒度仪
Horiba纳米粒度仪SZ100 Horiba动态光散射粒径分布测试仪SZ100 Horiba SZ100可更高灵敏度、高地评价单一纳米粒子（粒子直径、Zeta电位、分子量测定） 完全解析纳米粒子的物质结构 主要特点： 1. 将解析纳米尺寸重要的三要素（粒子直径、Zeta电位、分子量测定）的测定囊括于一身。 2. 从PPM顺序的低浓度到百分之几十的高浓度样品，都能够在保持原状态下取样调查、测定。 3. 微小容量电泳电池：为独自研发，可以测定取样调查仅100μL的Zeta电位。 4. 适合胶质粒子、机能性纳米粒子材料、高分子、胶束、核糖体、纳米囊等广泛应用 5. 取样调查后，只要按测定开始按钮即可，操作简单。 Horiba SZ100粒子直径测定 超宽动态测定有效范围：0.3nm~8000nm 通过采用与NEDO国家项目共同开发的相关器，实现高性能化。 在单一纳米粒子专用光学系统中，采用低角度90度光学系统。 广泛测定样品浓度范围 通过采用双重光学系统，可以进行釉浆、颜料等高浓度样品以及胶束、聚合物等低浓度样品的测定。 Horiba SZ100Zeta电位测定 通过安装标准的Horiba自主研发的微型样品池，可以测定仅100μL的样本。 规格：
| 样式 | SZ-100 |
| 构成 | 分析部主体、PC、打印机 |
| 粒子直径计测定原理 | 光子相关法 |
| 粒子直径测定范围 | 0.3nm~8μ |
| 粒子直径测定 | ISO13321基础规格 NIST可追踪单分散聚苯乙烯 每100nm相对±2%（但不包括标准粒子自身个体） |
| 分子量测定原理 | Debye Plot法 |
| 分子量测定范围 | 1 x 103 ~ 2 x 107 Da |
| Zeta电位测定原理 | 电泳激光多普勒法 |
| Zeta电位测定范围 | -200~+200mV |
| 样品电池温度调节 | 1.0~90.0℃ |
| 使用温度/湿度 | 15~35℃ 85%RH以下（不结冰） |
| 电源 | AC100V 50·60Hz 150VA |
| 外形尺寸 | 527（W）x 385（D）x 273（H）mm |
| 选项 | 21CFR part11软件、浸渍型样品池 |
