梅特勒AB265-S高分析天平
产品参数
量 程： 61/220g
精 度： 0.01/0.1mg
称盘尺寸： Φ80
线 性： ±0.2mg*
重 复 性： 0.05/0.1mg
外型尺寸： 245×321×344mm
产品用途
本产品适用于各地研究所和实验室
主要特点
1.采用高分辨率的称量单元，满足用户高的称量需求
2.称量单元保护装置（CellProtector），提高产品的抗冲击、过载性能
3.坚固的金属机架，避免称量样品的污染，延长天平的使用寿命
4.可读性为0.1mg天平采用背亮式液晶显示屏（Backlit LCD），方便用户读取称量结果
5.内置砝码校准，确保称量结果的准确性
6.双量程（DualRange）设计，满足客户对不同样品的称量需求
7.可以拆除的防风罩设计，实现天平的快速清洁
8.内置RS232通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备
9.标配机架塑料保护罩（Protective cover），避免散落样品的腐蚀
10.具有简单称量、百分比称量、计件称量和动态称量等内置应用程序
AB-L：外置砝码校准（需选购）；
AB-S：内置砝码校准；
AB-IC：内置砝码校准；
AB-S/FACT：采用温度漂移及时间设置触发的全自动校准技术（FACT）。
（1）精细量程内10 g样品典型重复性：0.02mg ；
（2）精细量程内10 g样品典型线性：0.03mg
