FJ1200环境级X、γ辐射测量仪主要用于环境辐射本底以及低水平X、γ辐射的准确快速测量,仪器采用NaI晶体作为探测器，具有灵敏度高的特性。仪器携带方便，易于操作。本仪表可用于环保部门检测环境本底情况，医院人员监测射线医疗设备附近本底，无损检验(即射线探伤)装置是否有辐射泄漏，核电站附近居民区环境本底测量，农业部门的辐照育种设备是否有辐射泄漏。适用人群和机构有：环境监测机构，医院辐射医疗设备操作管理人员，射线探伤装置的操作和管理人员，经常需要使用放射源的剂量刻度站和研究核辐射和辐射仪表的科研人员等。
【技术指标】
◆辐射类型：X，γ
◆探测器：Φ50 × 40 mm，NaI（Tl）晶体
◆测量范围：0.01 ~ 200μSv/h
◆测量：± 10%（100 μSv/h，137Cs）
◆能量响应： 40 keV ~ 1.3 MeV
◆响应时间：< 3 s
◆工作时间：4节AA1.5V电池
◆机械尺寸：主机：宽141 mm × 高111 mm × 厚38 mm
◆探头：Φ 60 × 254 mm（不含手柄）
【技术指标】
◆辐射类型：X，γ
◆探测器：Φ50 × 40 mm，NaI（Tl）晶体
◆测量范围：0.01 ~ 200μSv/h
◆测量：± 10%（100 μSv/h，137Cs）
◆能量响应： 40 keV ~ 1.3 MeV
◆响应时间：< 3 s
◆工作时间：4节AA1.5V电池
◆机械尺寸：主机：宽141 mm × 高111 mm × 厚38 mm
◆探头：Φ 60 × 254 mm（不含手柄）
