产品说明：
一、技术参数
测量原理非接触式，激光线
测量±0.002mm 重复测量±0.004mm
基座尺寸324mmX320mm
移动平台 电磁锁闭平台，附微调把手移动
平台尺寸:320mmX320mm
移动平台行程:230mmX200mm
影像系统高清彩色CCD摄像头光学放大倍率－110X(5档可调)照明系统高亮度环形LED光源(电脑控制亮度调节)测量光线可5μm高激光束电源95-265VAC,50-60Hz系统尺寸372mm(L)X557mm(W)X462mm(H)系统重量约30Kg(电脑重量)测量软件Waltrontech MC-110II/HSPC2000(Windows2000/XP)中文简体版，英文版
本机是由新加坡联合大学开发生产，并采用美国制造的精密激光线发生器，细线粗可达5微米亮度可调整，是目前同类系统使用的细激光线，了测量的和稳定性. 软件有英文版，简体中文版。
二、应用领域：
锡膏厚度测量面积、体积、间距、角度、长度、宽度、园弧、不规则形状等几何、测量锡膏厚度、PCB板上油墨、线路、焊盘高度、尺寸测量、件脚共平面度测量影像捕捉、视频处理、文件管理SPC、CPK、Cp统计、分析、报表输出
三、基本配置：
MC-110II主机 主机控制盒
电脑主机 ″液晶显示器
厚度校 网格长度校
软件驱动U盘 驱动程序光盘备份
四、应用背景：
随着SMT PCBA中装配的元件越来越小，元件装配密度越来越大，焊点变得越来越小。在焊接好的电路板上产生的缺陷有70%其实是来自锡膏印刷制程控制不够好。锡膏测厚机可以地在印刷制程中发现潜在的不良，提供的SPC制程控制数据，使终的不良大大降低。加上由于目前电子制造竞争日趋激烈，产生缺陷越多意味着利润的损失，甚至导致亏损。越来越多的公司在发单给电子制造厂时，对质量制程控制要求越来越严格，通常都会要求厂有该类设备，拥有控制锡膏印刷过程的能力。
精密型锡膏测厚仪MC-110II也可以用于其他行业，对10mm高度以内物体或件进行精密的非接触式测量，可测量长宽,高，几何尺寸，如圆弧，角度，平行线，面积，体积等等。如在精密机械工业中测量精密件，生物结果分析中，凝结块的几何尺寸等。
五、锡膏测厚机的工作原理
非接触式激光测厚仪由的激光器产生很细的线型光束，以的倾角投射到待测量目标上，由于待测目标与周围基板存在高度差，此时观测到的目标和基板上的激光束相应出现断续落差，根据三角函数关系可以用观测到的落差计算出待测目标与周围基板存在的高度差，从而实现非接触式的快速测量。
