SV-C4500S4三丰表面粗度轮廓仪

规格
型号
SV-C3200S4
(525-481-1/-2)
SV-C3200H4
(525-482-1/-2)
SV-C3200W4
(525-483-1/-2)
SV-C3200S8
(525-486-1/-2)
SV-C3200H8
(525-487-1/-2)
SV-C3200W8
(525-488-1/-2)
SV-C4500S4
(525-441-1/-2)
SV-C4500H4
(525-442-1/-2)
SV-C4500W4
(525-443-1/-2)
SV-C4500S8
(525-446-1/-2)
SV-C4500H8
(525-447-1/-2)
SV-C4500W8
(525-448-1/-2)
测量表面粗糙度时
测量范围
X 轴 (检测部) 100mm 200mm
Z1 轴 (检测部) 800μm / 80μm / 8μm
直线度(0.05+L/1000)μm　L 驱动长度(mm) 0.5μm / 200mm
分辨率Z1 轴 (检测部) 0.01μm(800μm), 0.001μm(80μm), 0.0001μm(8μm)
测力0.75mN (机身代码末尾带「-1」的机型) / 4mN (机身代码末尾带「-2」的机型)
测针针尖形状60o, 2μmR (机身代码末尾带「-1」的机型) / 90o, 5μmR (机身代码末尾带「-2」的机型)
对应尺寸JIS1982/JIS1994/JIS2001/ISO1997/ANSI/VDA
参数
Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz, Pt, Pc, PSm, P??q, Pm(rC), Pmr, P??c, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz, Rt, Rc, RSm, R??q, Rm(rC),
Rmr, R??c, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, WSm, W??q, Wm(rC), Wmr, W??c, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1,
A2, Rx, AR, R, Wx, AW, W, Wte, Ry, RyDIN, RzDIN, R3y, R3z, S, HSC, Lo, Ir, ??a, ??a, ??q, Vo, Htp, NR, NCRX, CPM, SR,
SAR, NW, SW, SAW
评价曲线
断面曲线、粗糙度曲线、滤波波纹曲线、波纹曲线、滚动圆波形截面曲线、滚动圆波形曲线、包络残余线、
DF 曲线（DIN4776 / ISO13565-1）、表面粗糙度MOTIF (包络波纹曲线在评价MOTIF 时显示。)
分析图
负荷曲线、振幅分布曲线、功率谱、自相关、Walsh 功率谱、 Walsh 自相关、顶峰分布、倾斜角分布、
参数分布(磨损量、重叠在轮廓分析可以用于面积等的分析)
曲线校正小平方直线、R 面校正、椭圆校正、抛物线校正、双曲线校正、二次曲线校正、多项式校正(自动或任意2~7 次)、无校正
滤波器高斯滤波器、2CRPC75、 2CRPC50、 2CR75、 2CR50、准样条滤波器
测量轮廓形状时
测量范围
X 轴(检测部) 100mm 200mm
Z1 轴(检测部) 60mm (测臂水平位置±30mm)
直线度0.8μm / 100mm 2μm / 200mm
指示
X 轴(检测部) ±(0.8+0.01L)μm　L 驱动长度(mm) ±(0.8+0.02L)μm　L 驱动长度(mm)
Z1 轴(检测部) SV-C3200 系列 : ±(1.6+ ?? 2H ?? /100)μm, SV-C4500 系列 : ±(0.8+ ?? 2H ?? /100)μm　H : 为水平位置上的测量高度(mm)
分辨率
X 轴(检测部) 0.05μm
Z1 轴(检测部) SV-C3200 系列 : 0.04μm, SV-C4500 系列 : 0.02μm
Z2 轴(立柱) 1μm
测力SV-C3200 系列 : 30mN (根据重量调整), SV-C4500 系列 : 10, 20, 30, 40, 50mN (根据软件转换)
测针方向SV-C3200 系列 : 向上/ 向下(单独测量), SV-C4500 系列 : 向上/ 向下(上下可连续测量)
通用时
Z2 轴(立柱) 移动量300mm 500mm 300mm 500mm
X 轴倾斜角度±45o
驱动速度
X 轴0 ～ 80mm/s 外加手动
Z2 轴(立柱) 0 ～ 30mm/s 外加手动