韩国Micro Pioneer XRF 2000 X射线镀层测厚仪/膜厚

韩国Micro Pioneer XRF 2000 X射线镀层测厚仪/膜厚仪

产品介绍

X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。  

XRF-2000 系列分为以下三种：  
1. H-Type :密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。  
2. L-Type : 密闭式样品室，方便测量 样品较小，高度约30mm以下。  
3. PCB-Type : 开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测 。   
应用 : 
测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围： Ti(22)~U(92 )。   
行业 : 
五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。   
特色 :
  非破坏，非接触式检测分析，快速精準。 
  可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。 
  相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑 。 
  全系列独特设计样品与光径自动对準系统。 
  标準配备: 溶液分析软体 ，可以分析电镀液成份与含量。 
準直器口径多种选择，可根据样品大小来选择準值器的口径。  
  移动方式：全系列全自动载台电动控制，减少人为视差 。  
  独特2D与3D或任意位置表面量测分析。 
  雷射对焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。 

标準ROI软体 搭配内建多种格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整 。 

光学2 0X 影像放大功能，更能对位。  

单位选择： mils 、 uin 、 mm 、 um 。 
  优於美製仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的优势。  
  仪器正常使用保固期一年，强大的技术支援及良好的售后服务。 
  测试方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。 

韩国Micro Pioneer 还推出一款元素分析及测厚两用的XRF-2000R型号

Micro Pioneer XRF-2000R X光镀层测厚仪及ROHS元素分析仪

是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能，

其物点为：高分辨率，固态探测器; 可分析超薄样品

分析有害物质，元素分析分之 ppm - 100％, 符合RoHS / WEEE标准测试以及ELV指令优化的应用;

可测量多层镀层厚度及锡铅成分分析；

电镀溶液分析；

定性分析超过30种元素,能够测量液体，固体，粉末，薄膜和不规则形状；

贵金属元素含量和分析（金，银，铂，和珠宝）；

自动过滤器，多准直仪(五个准直器，从0.1mm-3.0mm)和全自动XYZ移动样品台；

性价比超强的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器

仪器尺寸：W610mm D670mm H490mm, 重量：75Kg (net)                              

可测量样器大小：W550mm D550mm H30mm