- 品牌/商标:大塚電子 OTSUKA 大塚
- 企业类型:贸易商
- 新旧程度:全新
- 原产地:JAPAN
測定膜厚範囲 | サンプルサイズ | 光学系 | サンプル 供給方式 | 測定項目 | |
反射分光膜厚計 | |||||
FE-3000 series | 1nm~1mm | 200mm×200nm 以上 | 顕微 | バッチ?連続*1 | 膜厚、屈折率、 消衰係数、 絶対反射率 |
FE-300 | 10nm~1.5mm | 8インチウエハー | ファイバーレンズ | バッチ | |
FE-3 | 0.8μm~1mm | - *2 | ファイバーレンズ | バッチ?連続 | |
MCPD series | 0.8μm~1mm | - *2 | ファイバーレンズ | バッチ?連続 | *3 |
分光エリプソメータ | |||||
FE-5000 series | 0.1nm~1μm | 100mm×100nm 以上 | エリプソメトリー | バッチ?連続*1 | エリプソメータ、膜厚、屈折 率、消衰係数、絶対反射率 |
FE-5000S | 0.1nm~1μm | 100mm×100nm以下*4 | エリプソメトリー | バッチ |
*2 対応するサンプルサイズは、仕様により異なります。
*3 上記測定項目に加え、他の用途にも応用できます。
*4 小サンプルについてはお問い合わせください。反射分光膜厚計 FE-3000 series薄膜から厚膜まで!
大型ステージなど高い拡張性有
膜厚レンジ | 1nm~1mm |
測定波長範囲 | 230nm~1600nm |
大型ステージなど高い拡張性能有
膜厚レンジ | 0.1nm~1μm |
測定波長範囲 | 250nm~2000nm |
簡単操作で高膜厚測定
膜厚レンジ | 10nm~1.5mm |
測定波長範囲 | 300nm~1600nm |
紫外から近赤外まで幅広く対応
膜厚レンジ | 0.1nm~1μm |
測定波長範囲 | 250nm~2000nm |
遠隔測定?多点測定
膜厚レンジ | 20nm~240μm |
測定波長範囲 | 430nm~1600nm |
膜厚レンジ | 0.8μm~1mm |
測定波長範囲 | 230nm~1600nm |