仪器简介：
技术参数：
主要特点：
X-3000是一种体现X射线荧光分析技术新进展的能量色散X射线荧光光
谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单
元，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证
了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方，正
是它大有作为之处。
技术参数：
1 激发源：本机采用低功率 X 射线管（Mo靶），电压可达50KV，电
流1mA
2 高压电源：50W，50KV，1mA
3 探测器：电制冷 Si PIN半导体探测器（55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线，分
辨率优于170KeV）
4 多道分析器：2048道
5 软件：基于WINDOWS的强大工作软件。定量分析包括：经验系数法， 理论a
系数法和基本参数法。 定性分析包括： KL线标记， 谱图比较和光标寻峰
等。客户可进行二次开发，自行开发任意多个分析方法。
6 电源：交流220V 50Hz
7 体积：520mm x 600mm x 270mm
8 重量：约 42kg (主机)
主要特点：
我公司生产的X-3000型测金仪优势的方面为采用了目前世界上较为先进的半基本参数法。该方法是一种理论方法。由测量所有主元素分析线的净强度（这些主成分之和应接近100%）并使用X射线荧光强度的理论公式来校正元素间的相互影响（吸收增强效应）。基本参数法可以在一定的准确度下提供可靠的分析结果。它既不需要校准曲线，也不需要从经验中提取校正系数。它只需要少量可靠的标准样品在确定的仪器条件下计算每个分析元素的纯元素强度即可。采用X射线荧光方法,适应范围广泛，工作曲线，方法可自由选取，修定。对各种科研，分析单位的适应能力强。