HP4192A阻抗分析仪

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东莞市银通电子有限公司
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供应商名称:美国惠普
频率范围:5 Hz - 13 MHz
增益-相位测量：幅度，相位，群延时
浮点或接地器件
阻抗测量：|Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,D,Q,Δ,Δ%
标准Agilent-IB
Agilent4192A低频阻抗分析仪对诸如电信滤波器-音频/视频电子电路之类的器件和基础电子元件完成网络分析和阻抗分析。对浮点接地器件也可加以测试。测量信号 （23°~±5℃）
频率范围 5Hz~13MHz
频率步进 0.01Hz(5Hz~10kHz);0.01Hz(10kHz~100kHz);
0.1Hz(100kHz~1MHz),1Hz(1MHz~13MHz)
频率 ±50ppm
振荡器电平 5mV~1.1Vrms可变，50Ω（幅度-相位测量）或开路（阻抗测量）
振荡器电平步进 1mV(5mV~100mV);5mV(100mV~1.1V)
电平监视（阻抗测量）： 可监视穿通电流或端电压取样
控制： 通过前面板或agilent-IB进行点频和扫频测量
测量方式
定点测量 在规定的频率（或直流偏压）上进行
扫频测量 从起始频率到终止频率（或直流偏压）的手动或自动扫描（以选择的步进频率或直流偏压）
扫描方式 线性或对数（只是对频率）
输出电压 ±1V
关键状态储存 5种测量状态设置可以在任何时间被存储和调用
agilent-IB数据输出和遥控 标准
自测试 自动自我测量
触发 内部，外部、手动或agilent-IB

幅度—相位测量
测量参数 相对幅度B-A（dB）和相位Q（度或弧度），B-A和群延时；幅度A（dBm或dBV)或B（dBm或dBV)
和所有参数的偏移（Δ，Δ%）
参考幅度 0dBV=1Vrms,0dBm=1mW(50Ω负载）
振荡器输出电阻： 50Ω
通道A和B： 输入阻抗：1MΩ±2%，并联电容，25pF±5pF

测量：（23±5℃）：30分钟预热后，在BNC未知终端上的规定值
B-A（相对幅度）和（θ相位）测量：±0.01dB,±0.05°(-20~0.8dBV输入，频率为100~10kHz时）
A，B（幅度）测量： ±0.4dB(-50~0.8dBV输入，频率为100~1MHz时

阻抗测量
测量参数 |Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B,L-D,Q,R,G,C，D,Q,R,G和所有参数的偏移（Δ，Δ%）
显示 4
1/2 位，显示为12999计数，对L和C是19999
电路方式 串联等效电路和并联等效电路，可自动选择
自动调零 通过按钮操作使由测试夹具残余阻抗引起的读数偏差自动规格化（在点频上）
测量范围和（23°±5℃） 当振荡器电平大于0.1V以及当完成自动调零时，在30分预热后，在未知终端上的规定值（测试速度：正常或平均）下面给出的只在测量得的值等于每个测量范围的满刻度时才正确

|Z|-θ，R-X，|Y|-θ，G-B测量：

参数 测量范围 基本
|Z|、R、X 1.0000Ω~1.000MΩ 0.15%
|Y|、G、B 10.000μS~10.00S 0.15%
θ -180.00°~+180.00° 0.08°
R（D≥10）;X（D<1)
G（D>1);X（D≤0.1)
L-D·Q,C-D·Q测量：
参数 测量范围* 基本
L 0.01nH~1000H 0.27%
C 1.0000pF~199**mF 0.15%
D（1/Q） 0.0001~19.999 0.001(C测量）
0.003(L测量）

*除D（I/Q）外，随测量频率变化
**超过100mF时C的未作规定

内部直流偏置：标准（只适于阻抗测量）

电压范围 -35V~+35V，10mV步进
调节（23°±5℃） 调节值的5%+5mV
偏置控制： 利用面板控制或Agilent-IB进行点频和扫频

一般指标

测量时间（高速方式）
B-A和θ，A或B： 88~127ms(≥400Hz)
阻抗参数： 58~91ms(≥1kHz)
测试电平监视范围（阻抗测量）
电压： 5mV~1.1V
电流： 1μA~11mA
工作温度：
　 0°~55℃,在40℃上相对湿度±95%
电源： 100,120,220V±10%,240V+5%~-10%,48~66Hz
,150V Armax
尺寸： 425.5mm(宽）*235mm（高）*615mm(长）（16.5英寸*9英寸*22.6英寸）

重量： 约19kg(41.9磅）

备注：
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