仪器简介：
S-3400N具有新开发的电子光学系统，强大的自动化功能，操作更简便
技术参数：
二次电子SE分辨率：3.0nm (高真空，30KV) ，10nm(高真空，3KV)
背散射电子BSE分辨率：4.0nm (低真空，30KV)
倍率：5~300,000倍
主要特点：
具有强大的自动功能，包括自动灯丝饱和、自动4偏压、自动枪对中、自动束流设定、自动合轴、自动聚焦和消色散、自动亮度对比度等
在3KV低加速电压时保证有10nm的分辨率
新型5分割高灵敏度半导体背散射探头
S-3400 II型具有5轴马达台，倾斜角度可达-20º ~+90º，样品可达80mm
分析样品仓可以同时安装EDX，WDX和EBSD
真空系统使用涡轮分子泵，工作效率高
