仪器简介：
BWS435高性能共聚焦显微拉曼光谱仪是B&W TEK公司新出品的高性能共聚焦显微拉曼光谱仪系统，它采用先进可靠的Olympus BX61显微镜平台，性能优异，配置灵活，提供丰富的附件来满足客户的不同的应用需要。共聚焦技术消除了非焦点区域的杂散光，大大提高了信噪比，并保证了观察区域与检测区域的一致性。光谱检测系统采用了本公司的BTC661E高性能光谱仪，它采用了独有的光路设计和TE致冷背照明式CCD阵列，具有极高的信噪比和分辨率。该系统还采用了本公司具有美国的窄带宽高稳定性激光器，激发波长532nm和785nm可选，激光带宽<0.02nm,且功率可调，是拉曼光谱检测的理想激发光源。另外全系列产品可加配XYZ向电动平移台进行Raman Mapping检测。该系统性能优异，性价比高，操作方便，是拉曼光谱检测的理想选择。
技术参数：
光学系统 正置
光学放大倍数 5X, 10X, 20X, 40X, 80X长工作距离物镜
100X 长工作距离物镜可选
调焦系统
载物台垂直运动范围： 25mm
载物台配有粗调限位器
粗调旋钮张力调节
载物台装配位置可变
高灵敏度微调对焦旋钮
(小调节步长：1 微米)
拉曼光谱检测系统
光谱覆盖范围 BWS435-785 100-2600 cm-1(标准)
(65cm-1可选)
BWS435-532 100-3050 cm-1(标准)
(65cm-1可选)
分辨率 BWS435-785 3.5cm-1
BWS435-532 3.5cm-1
光学系统 Dual pass transmission
激发波长 532 or 785±1nm
激光带宽 0.1nm(标准)，0.2nm() ，单模0.01nm
激光功率 0-20mW (532nm 激发功率可调)，0-80mw(785nm激发，功能可调）
探测器 背照明致冷 CCD, 2048x122 pixels
探测器温度 -20°C
长积分时间 16 分种
主要特点：
TE致冷背照式CCD阵列检测仪器，具有很高的灵敏度与信噪比
的光学平台设计，可提供的系统光通量与分辨率
高性能的共聚焦显微镜系统，做到了真正的“所见即所得”
采用高性能拉曼滤光片，检测波数可达65cm-1
采用具有美国的本公司独有的窄带宽高稳定激光器，且功率可调
整机无移动部件，无需定期校正，使用方便，可靠性高
性能优异，性价比高。
