技术参数：
●测定原理 X射线荧光分析法
●测定方法 能量色散型
●测定对象 固体、液体、粉体
●样品形状 150mm× 150mm× 40mmH
●X射线管 Rh靶
●检测器 Si（Li）半导体检测器（μEDX-1200/1300型）
Si漂移半导体检测器（μEDX-1400型）
●测定范围 13Al ~ 92U （μEDX-1200型）
11Na ~ 92U （μEDX-1300型）
13AL ~ 92U （μEDX-1400型）
主要特点：
μEDX系列X射线荧光光谱仪可以高灵敏度地分析很小的样品。对于需要高分辨率同时高X射线强度才能进行测定的电子部件、电路板以及材料中的异物等微小局部的测定，本装置可进行高灵敏度、高分辨率，分析直径小至50μm的分析。
