日本HORIBA公司X荧光光谱仪(有害元素检测仪)

仪器简介：
Horiba X射线荧光分析仪是专门针对WEEE(电气电子产品废弃物处理法令）和
RoHS法令（限制电器电子产品使用有害物质法令），快速地测定电子部件
中的有害元素的含量。它能对电子电器产品中所含有的有害物质如铅、汞、铬、
镉、溴等元素进行快速而准确的分析。另外，通过CCD摄像头可以非常清晰的观
察样品表面，选取所需要的测试点，操作非常简单。

技术参数：
●Pb/Hg/Cd/Br检出下限2ppm, Cr检出下限5ppm
●采用Φ1.2ｍｍ/3ｍｍ X射线导管技术(XGT)可对微小区域进行高分析
●采用大型样品室(460ｍｍ×360ｍｍ×150ｍｍ)
●可使用CCD摄像机(50倍)，指定试样的位置（业内！X射线.光学同轴照射）
●单键操作，简单方便
●还可以对100μm的微小区域进行分析 (需要另选)
●使用有害元素专用滤光膜，检测器灵敏度大幅度提高


主要特点：
●Pb/Hg/Cd/Br检出下限2ppm, Cr检出下限5ppm
●使用1.2ｍｍ/3ｍｍ　X射线导管技术(XGT)实现微小区域的高　　　　　　灵敏度分析
●采用大型试样室(460ｍｍ×360ｍｍ×150ｍｍ
●试样为塑料、金属、纸、涂料、油漆等，并真正实现无损检测
●可使用CCD照相机(50倍)指定试样的位置 (业内！X射线・光学
同轴照射)
●测定可一键实现简单操作
●自动元素干扰修正、厚度补偿
●数据输出到EXCEL并可依据管理值实现自动判定功能