摘要 RX-400红外测厚仪是一款可以检测无机涂层、超薄涂层和复合薄膜的仪器，主要用于钢板上氧化表膜的厚度检测如SiO2、磷化物；薄膜上聚硅酮涂层厚度检测及复合薄膜的各层厚度检测等。
产品级别 高端在线
适合行业 硅钢
样品状态 硅板表面氧化膜
产品用途 （1） 钢板上氧化膜厚度检测
（2） 薄膜上聚硅酮涂层厚度检测
（3） 高功能薄膜的涂层厚度检测
（4） 复合薄膜的各层厚度检测
主要特征 （1）与X射线比较设备价格低；
（2）适于在线测量，可以距离钢板等40mm检测；
（3）高 可以检测原来的红外线膜厚度计无法测量的无机涂膜厚度及超薄涂层的厚度。
技术参数 测量说明
测光方式 红外反射吸收方式
分光方式 旋转滤波方式(6个滤波片)
测量距离 40mm(从本体部下面)
测量面积 20*30mm（椭圆）
装置说明
检测器 尺寸：410（W）*207（D）*160（H) （不含突起部分）
重量：8.5Kg
中继连接器 尺寸：322（W）*113（D）*140（H) （不含突起部分）
重量：4Kg
电源：AC100V±10% 50/60Hz 200VA
数据处理部 尺寸：300（W）*275（D）*165（H） （不含突起部分）
重量：6Kg
电源：AC100V±10% 50/60Hz 200VA
外部输出 0-10V，4-20mA模拟输出（出厂时设定）
使用温度 5-40°C（无结露）
荣获殊荣 技术P偏光。
