TriStar II3020新一代全自动比表面积和孔隙度分析仪,可同时进行三个样品的分析从而提高分析效率，提供全吸附、脱附曲线、BET及 Langmuir比表面、平均孔尺寸和单点总孔体积、BJH中孔、大孔体积、面积分布、总孔体积、de Boer t-plot数据处理微孔体积和表面积，厚度公式、αs-plot和f-ratio 法、MP法。
歧管和三个样品分析站分别配有独立的传感器，可以同时的测量三个样品，PO管同样拥有独立的压力传感器。
软件配备自检系统，方便用户自行检测仪器
选配的分子涡轮泵以及10mmHg可以将仪器升级到微孔单元。
技术参数：
1.比表面测量范围为氮气吸附0.01m2/g 至无上限，氪气吸附0.0001m2/g 至无上限
2.孔径分析范围：3.5 埃～5000 埃，
3.测量5 点BET 比表面仅需20 分钟。
4.重复性优于1％。
5.真正的三站同时测量。每个分析站均有独立的高压力传感器。
6.新的软件字幕，以太网口连接主机和电脑的通讯数据线，内置电子检测点和强大的仪器自诊断功能.
7.可升级至微孔单元，选配的分子涡轮泵和10mmHg高压力传感器
8.多种样品制备系统可选。
主要特点：
分析方法包括
♦全吸附、脱附曲线（吸附脱附曲线都做到1000 个测量点）
单点或多点BET 比表面积
♦Langmuir 比表面
♦平均孔尺寸和单点总孔体积
♦BJH 吸附/脱附曲线，中孔、大孔信息
（体积、面积分布）
♦Harkins Jura 厚度层公式
♦Halsey 厚度层公式
♦中孔和大孔体积、面积对孔径分布
♦NLDFT 非定域密度函数理论
♦总孔体积♦Validation reports
♦ 专为企业服务的SPC（Statistical Process Control 统计过程控制）。
♦ Dollimore-Heal adsorption and desorption
♦ Kruk-Jaroniec-Sayari correction
♦de Boer t-plot（数据处理微孔体积和表面积，厚度公式）
♦αs－plot ♦f-ratio
♦MP 法，Harkins Jura 厚度层公式，Halsey 厚度层公式，
♦Kruk-Jaroniec-Sayari correction
♦STSA 碳黑外比表面
♦DFT 和比表面能分布( 密度函数理论)
♦summary report 总结
