冷热冲击试验机的详细信息
应用于半导体器件、电子产品和其他军用设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验。
立式两箱结构，高低温箱循环过程自动控制，停留及转换时间可调，不锈钢内胆，多形式记录，设有多种安全保护措施及装置。
满足MIL-STD-810D方法032、GB2423.22-89Na、GJB1505-86等。 执行与满足标准
．GJB150.5-86 温度冲击试验
．GB2324.22-89 试验Na
．GB2423.1-89 试验A 低温试验方法
．GB2423.2-89 试验B 高温试验方法
．GJB360.7-87 温度冲击试验
．GJB367.2-87 温度冲击试验 适用范围
主要用于电工、电子产品、材料及各种零部件的高低温冲击试验和周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验。
基本特点
．内胆采用优质不锈钢板、外壳采用优质冷轧钢板静电粉末喷涂
．中空电热膜玻璃观察窗
．两箱式上下结构：上部为高温箱，下部为低温箱，两箱之间由样品架连结，经传动机构在两箱间移动。循环过程自动控制，停留及转换时间可调。
．工作室设有照明装置
．具有累计计时功能
．采用进口可编程程序控制器
．完善的保护报警功能：具有短路、漏电、工作室超温；压缩机超压、过载、油压、断水
标准配置及选配件
．标准配件：Φ50测试孔、照明灯、观察窗、记录仪
．可选配件：RS232（RS485)通讯接口及计算机、打印机 型号规格 型 号 JC-TSC100 JC-TSC150 JC-TSC225 工作室尺寸 500×400×500 500×600×500 500×600×750 型 号 JC-TSC408 JC-TSC800 JC-TSC010 工作室尺寸 600×800×850 800×1000××1000×1000 . 指标均在室温为25℃，空载时测得
应用于半导体器件、电子产品和其他军用设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验。
立式两箱结构，高低温箱循环过程自动控制，停留及转换时间可调，不锈钢内胆，多形式记录，设有多种安全保护措施及装置。
满足MIL-STD-810D方法032、GB2423.22-89Na、GJB1505-86等。 执行与满足标准
．GJB150.5-86 温度冲击试验
．GB2324.22-89 试验Na
．GB2423.1-89 试验A 低温试验方法
．GB2423.2-89 试验B 高温试验方法
．GJB360.7-87 温度冲击试验
．GJB367.2-87 温度冲击试验 适用范围
主要用于电工、电子产品、材料及各种零部件的高低温冲击试验和周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验。
基本特点
．内胆采用优质不锈钢板、外壳采用优质冷轧钢板静电粉末喷涂
．中空电热膜玻璃观察窗
．两箱式上下结构：上部为高温箱，下部为低温箱，两箱之间由样品架连结，经传动机构在两箱间移动。循环过程自动控制，停留及转换时间可调。
．工作室设有照明装置
．具有累计计时功能
．采用进口可编程程序控制器
．完善的保护报警功能：具有短路、漏电、工作室超温；压缩机超压、过载、油压、断水
标准配置及选配件
．标准配件：Φ50测试孔、照明灯、观察窗、记录仪
．可选配件：RS232（RS485)通讯接口及计算机、打印机 型号规格 型 号 JC-TSC100 JC-TSC150 JC-TSC225 工作室尺寸 500×400×500 500×600×500 500×600×750 型 号 JC-TSC408 JC-TSC800 JC-TSC010 工作室尺寸 600×800×850 800×1000××1000×1000 . 指标均在室温为25℃，空载时测得
