- 产品品牌：
- 牛津Oxford
- 产品型号：
- CMI760
- 测量范围：
- 1 – 102 μm
CMI760可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度，称为铜厚测试仪或是面铜测厚仪、孔铜测厚仪。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和的测量，因此是一款相当不错的台式涂镀层测厚仪。CMI 760台式测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性，对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。 同时CMI 760具有先进的统计功能用于测试数据的整理分析。
牛津仪器测厚仪器CMI 760专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。
广东正业科技有限公司提供CMI900,CMI700,CMI500,CMI165等I涂镀层测厚仪,元素分析仪,无损检测。广东正业科技有限公司作为中国大陆的牛津仪器代理,销售维修:X-STRATA960,980等各种型号涂镀层测厚仪,拥有一支经验丰富的服务团队,为客户提供及时,优质的售前/售后服务和技术支持。
CMI760（面铜测厚仪，孔铜测厚仪，涂镀层测厚仪）配置包括：
--CMI760主机
--SRP-4探头
--SRP-4探头替换用探针模块（1个）
--NIST的校验用标准片
选配配件：
--ETP探头
--TRP探头
--SRG软件
SRP-4面铜探头测试技术参数：
--铜厚测量范围：
--化学铜：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm)
--电镀铜：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
--线形铜可测试线宽范围：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)
--准确度：±1% (±0.1 μm)参考标准片
--度：化学铜：标准差0.2 %；电镀铜：标准差0.5 %
--分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm
ETP孔铜探头测试技术参数：
--可测试小孔直径：35 mils (899 μm)
--测量厚度范围：0.08 – 4.0 mils (1 – 102 μm)
--电涡流原理：遵守ASTM-E376-96标准的相关规定
--准确度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
--度：1.2 mil（30μm）时，达到1.0% （实验室情况下）
--分辨率：0.01 mils (0.1μm)
TRP-M（微孔）探头测试技术参数：
--小可测试孔直径范围：10 – 40 mils (254 – 1016 μm)
--孔内铜厚测试范围：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm）
--可测试板厚：175mil （4445 μm）
--小可测试板厚：板厚的小值必须比所对应测试线路板的小孔孔径值高3mils(76.2μm)
--准确度（对比金相检测法）：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
±10%≥1mil(25 μm)
--度：不建议对同一孔进行多次测试
--分辨率：0.01 mil(0.1 μm)
--显示 6位LCD数显
--测量单位 um-mils可选
--统计数据 平均值、标准偏差、值max、小值min
--接口 232串口,打印并口
--电源 AC220
--仪器尺寸 290x270x140mm
--仪器重量 2.79kg
