- 产品品牌：
- K-MAC 韩国科美
- 产品型号：
- ST2000-DLXn
- 测量范围：
- 200＆#8491;~ 35＆#13211;(根据膜的类型)
- 重量：
- 12Kg
- 外形尺寸：
- 190 x 265 x 316 mm
- 外形尺寸：
- 190 x 265 x 316 mm
- 重量：
- 12Kg
| 尺寸 | 190 x 265 x 316 mm |
| 重量 | 12Kg |
| 类型 | 手动的 |
| 测量样本大小 | ≤ 4" |
| 测量方法 | 非接触式 |
| 测量原理 | 反射计 |
| 特征 | 测量迅速，操作简单 非接触式，非破坏方式 的重复性和再现性 用户易操作界面 每个影像打印和数据保存功能 可测量多达3层 可背面反射 |
尺寸：190*265*316mm
重量：12kg
类型：手动的
测量样本大小：≤4"
测量方法：非接触式
测量原理：反射计
特征：测量迅速、操作简单、非接触式、非破坏式、的重复性和再现性、用户易操作界面、每个影像打印和数据保存功能、可测多达3层、可背面反射。
| 尺寸 | 190 x 265 x 316 mm |
| 重量 | 12Kg |
| 类型 | 手动的 |
| 测量样本大小 | ≤ 4" |
| 测量方法 | 非接触式 |
| 测量原理 | 反射计 |
| 特征 | 测量迅速，操作简单 非接触式，非破坏方式 的重复性和再现性 用户易操作界面 每个影像打印和数据保存功能 可测量多达3层 可背面反射 |
| 活动范围 | 150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离) |
| 测量范围 | 200Å~ 35㎛(根据膜的类型) |
| 光斑尺寸 | 20㎛ 典型值 |
| 测量速度 | 1~2 sec./site |
| 应用领域 | 聚合体: PVA, PET, PP, PR ... 电解质: 半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... |
| 选择 | 参考样品(K-MAC or KRISS or NIST) |
| 探头类型 | 三目探头 |
| nosepiece | Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt |
| 照明类型 | 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer |
| 尺寸 | 190 x 265 x 316 mm |
| 重量 | 12Kg |
| 类型 | 手动的 |
| 测量样本大小 | ≤ 4" |
| 测量方法 | 非接触式 |
| 测量原理 | 反射计 |
| 特征 | 测量迅速，操作简单 非接触式，非破坏方式 的重复性和再现性 用户易操作界面 每个影像打印和数据保存功能 可测量多达3层 可背面反射 |
| 活动范围 | 150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离) |
| 测量范围 | 200Å~ 35㎛(根据膜的类型) |
| 光斑尺寸 | 20㎛ 典型值 |
| 测量速度 | 1~2 sec./site |
| 应用领域 | 聚合体: PVA, PET, PP, PR ... 电解质: 半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... |
| 选择 | 参考样品(K-MAC or KRISS or NIST) |
| 探头类型 | 三目探头 |
| nosepiece | Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt |
| 照明类型 | 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer |
活动范围：150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
测量范围：200Å~ 35㎛(根据膜的类型)
光斑尺寸：20㎛ 典型值
测量速度：1~2 sec./site
应用领域：聚合体: PVA, PET, PP, PR ...
电解质: 半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... 选择：参考样品(K-MAC or KRISS or NIST) 探头类型： 三目探头 nosepiece：Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt 照明类型： 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer
