- 类型：
- 正置式金相显微镜
XJ-1型正置式金相显微镜是2001年推出的国内新型中级金相显微镜，能广泛应用于金相、岩相、集成电路、晶体等领域内的检验及科学研究工作。 仪器光路采用了无穷远成像系统，配有一套新设计的平场消色差物镜，其成像清晰平坦，视域开阔，具有优良的组织鉴别力。偏光装置：内置式起偏和检偏系统。 使用者一边观察一边可以同时进行成像记录。在仪器上设有CCD接口能够连接摄影装置，数码相机拍摄或显微镜监视系统下进行定量的图像分析工作。 仪器造型新颖，结构稳固，所具有的功能全部装置在显微镜主机内，从而确保使用者快速操作，并能获得一致的成像效果。 配置表 1. 物镜
| 放大倍数 | 数值孔径 | 工作距离 | 介质 | 备注 | 配置 |
| PC10* | 0.25 | 16.5 | 空气 | PL/∞ | 1 |
| PC20* | 0.40 | 1.6 | 空气 | PL/∞ | 1 |
| PC40* | 0.65 | 0.55 | 空气 | PL/∞ | 1 |
| PC80* | 0.90 | 0.2 | 空气 | PL/∞ | 1 |
| 放大倍数 | 焦距 | 视场直径 | 备注 | 配置 |
| 10* | 25 | φ18 | 2 | |
| 10* | 25 | φ18 | 带有0.1mm分化板 | 选配 |
| 12.5* | 25 | φ14 | 选配 |
