X射线荧光分析仪

产品介绍     第三代3DFAMILY X射线荧光分析仪，采用世界上先进的硅SIPIN探测器（分辨率为150ev），实现了无液态氮检出器下高灵敏度的检测功能。配备自动切换的滤光片及透射式X射线球管，程度地缩小了X射线源与被测物体的间距，从而在较低的电压下达到同样的激发效率，同时减少了漫射光的干扰，大大地提高了灵敏度和读数的准确性，重复性。 产品特点1、在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从而可以进行更高灵敏度的微量分析。2、X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，软件可自动过滤背景对分析结果的干扰，从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。3、当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近，会使此时谱图的波峰重叠在一起，由此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰，确保了元素分析的正确性。4、逃逸峰：由于采用的是Si针半导体探测器，因此当X射线荧光在通过探测器的时候，如果某种元素的含量较高(能量也会相应的较高)，其被Si吸收的概率也就越大。此时，光谱图中在该元素的能量值减去Si能量值的地方回产生一个峰，此峰即为逃逸峰。5、在电压不稳的情况下，可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。 技术参数分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高型）Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型）检出下限Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm样品形状460×380mm(高150mm)样品塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体样品室气氛大气X射线管靶材Rh管电压50KV管电流1mAX射线照射径1/3/5mm防护＜0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕）检测器以上是X射线荧光分析仪的详细信息，如果您对X射线荧光分析仪的价格、厂家、型号、图片有什么疑问，请联系我们获取X射线荧光分析仪的新信息。