| SY-706饱和加速寿命试验箱 |
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| 产品简介： |
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| 主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。 PCT主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体。 |
| 技术参数： |
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| ◆ 真空泵浦设计(锅炉内空气抽出)提高压力稳定性、再现性 |
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| ◆ 超长效实验运转时间，长时间实验机台运转300小时 |
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| ◆ tank干燥设计，试验终止采真空干燥设计确保测试区(待测品)的干燥 |
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| ◆ 水位保护，透过炉内水位Sensor检知保护 |
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| ◆ tank耐压设计，箱体耐压力(140℃)2.65kg，符合水压测试6k |
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| ◆ 二段式压力安全保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置 |
| ◆ 安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮 |
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| 符合标准 GB、ISO、ASTM、UL、CEN |
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| 饱和加速老化寿命试验机具有自动加水功能并且在试验过程中水位过低时自动补水。试验过程自动运转至完成结束，使用简便。温度控制：LED数字型温度控制器可 |
| 作试验温度之设定、控制及显示。计时器：LED数字型计时器，当锅内温度到达後才开始计时以确保试验完全。精准的压力／温度表随时显示锅内压力与相对温 |
| 度。运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到蒸气品质。一体成型矽胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。试验箱内经抛光处理经久耐用美观不沾污。 本系 |
| 列机种，适用于PCB板厂及IC板试验检验 |
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| 温度范围 105℃～145℃ |
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| 湿度范围 30%~100%RH |
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| 内部尺寸 450×450mm |
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| 外部尺寸 1150×1720×1260mm |
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| 温度稳定度 ±0.5℃ |
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| 湿度稳定度 ±1%RH |
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| 升温时间 RT～140℃Appro×120min |
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| 压力范围 0.2～2.0kg/cm2G |
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| 内箱材质 不锈钢板（SUS316#） |
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| 外箱材质 不锈钢板（SUS304#） |
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| 控制器 LCDdisplay0.1℃resolution 2programs10Steps |
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| 保温材质 玻璃棉 |
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| 配 件 隔层板1片 |
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| 保护装置 空焚防止开关，缺水保护开关，无熔丝开关，拽压安全保护开关 |
| 重 量 132kg |
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| 电 源 AC220V±10%， |
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| 1PH，50/60HZ |
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