| 主要特点
1. 25平方毫米PIN探测器 2. 100瓦X射线管 3. 多准直器配置 4. 扫描分析及元素分布成像功能 5. 灵活运用多种分析模型 6. 清晰显示样品合格/不合格 7. 超大样品舱 8. 同时分析元素含量和镀层厚度 |
| 仪器介绍
1. 运用X 荧光原理实现痕量元素分析及镀层厚度测量。应用于： 2. 有害元素痕量分析 3. 电子产品中金和钯镀层的厚度测量 4. 五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量 5. 贵金属合金分析和牌号鉴定 |
上海乔科仪器有限公司
免企业未认证证营业执照未上传
扫一扫
进入手机店铺
