仪器简介：
对材料特性的全面认识是理解材料性能的基本前提。材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷都对材料的性能产生影响。透射电子显微镜已经被证实是在小到埃级尺寸研究各种普通材料和先进材料的非常有效的技术。它能够产生很多的信号, 这些信号携带了不同类型的有用信息。Tecnai G2 20经过特殊设计可以快速有效地采集和处理这些信号。将高分辨图像、明场/暗场图像、STEM图像、电子衍射和详细的微观分析有机的结合起来, 使Tecnai G2 20成为材料分析研究的重要仪器。
Tecnai G2 20可以根据不同用户的配置要求供货。标准型仪器提供了已被证实的多项先进技术: 既可得到高分辨图像又保持高倾角(40°)的S-TWIN物镜, 提供样品控制和机械稳定性优异的CompuStage样品台。Tecnai G2 20可以安装完全集成式设计的数字化的STEM(透射扫描附件)、EDX(能谱仪)和能量过滤或PEELS(能量损失谱)。这些技术可结合起来完成频谱分布和频谱图像的分析工作。Tecnai G2 20为材料分析研究用户提供了稳定性、操作方便性和高性能的优异组合。无论是在常规分析, 还是亚微米研究, Tecnai G2 20都能够满足日益增多的样品数量。
为满足结构生物学研究的需要，FEI公司还设计制造了配置TWIN物镜和Cryo冷冻样品台的专门系统: Tecnai G2 20 TWIN
其主要技术特点：
- TWIN物镜系统, 点分辨率 0.27nm
- 样品倾角 +/- 70°
- Cryo液氮冷冻样品台及冷冻转移设备
- 全自动化的数据采集和数据处理系统
主要特点：
1.100%数字化系统
2.FEI技术S-TWIN/U-TWIN物镜
3.CompuStage样品台提供高的样品位置控制
4.全连锁的洁净的真空系统
5.可选完全集成化的各种附件, 如能谱仪、CCD相机等
技术参数：
1.LaB6灯丝或钨灯丝
2.点分辨率
U-TWIN 0.19nm
S-TWIN 0.24nm ; TWIN 0.27nm
3.加速电压 20-200kV,连续可调
4.放大倍数 25x - 1100kx
5.样品倾角: S-TWIN +/- 40° ; TWIN +/- 70°
6.计算机控制的全数字化电镜,基于Windows XP的用户界面
