仪器简介：
Tecnai G2 F20是一个真正多功能、多用户环境的200kV工具。它以其将各种透射电镜技术(包括TEM、EFTEM、Lorentz透镜、STEM、EDX/EELS频谱成像等)方便灵活地有机组合, 形成强大的分析功能, 而在同类型仪器中独占鳌头。任务导向型用户界面和自动采集数据功能, 使用户从必须首先成为电镜才能获得理想结果的压力中解放出来, 使他们专注于自己的研究工作。Tecnai G2的“完全一体化”概念允许在不同的操作模式和数据采集技术之间快速切换, 切换过程中系统自动调回所有相关的操作设置。
Tecnai G2 F20以您实验室的现状而构建: 具有各种分析要求的、不同应用水平的操作者都要在上面工作。同时, 这一TEM/STEM系统已经为明天做好准备, 它可以用新的功能进行升级, 以保证方便快速地进行更先进的数据采集。 Tecnai G2 F20为通用纳米分析技术透射电镜平台的设立了一个标准。
主要特点：
1.高性能的透射电子成像、扫描透射成像和纳米分析
2.所有的先进分析技术集成于一体: TEM、HR-TEM、STEM、HR-STEM、电子衍射、EFTEM、EDS和EELS频谱图、全息技术和Lorentz透镜技术、三维重构技术、低剂量曝光技术、冷冻电镜技术
3.多用户环境下的方便和安全操作
4.适用于大量样品的快捷分析
5.将来技术, 今日应用
6.基于Windows XP操作系统的用户界面
技术参数：
1.信息分辨率极限
U-TWIN 0.12nm;
S-TWIN/X-TWIN 0.14 nm ; TWIN
2.点分辨率
U-TWIN 0.19nm ;
S-TWIN 0.24nm ;
X-TWIN 0.25nm ; TWIN 0.27nm
3.高分辨STEM分辨率
U-TWIN 0.14nm ;
S-TWIN 0.19nm ;
X-TWIN 0.18nm; TWIN 0.16nm
4.加速电压 20-200kV,连续可调
5.电子束能量色散 <0.7eV
6.束流 >100nA. 1nm束斑束流>0.5nA.
7.样品倾角 S-TWIN +/- 40o ; TWIN +/- 70°
Tomography样品杆 +/- 70o
8.EDS立体角
X-TWIN 0.3sr
S-TWIN/U-TWIN 0.13sr
