| 品牌 | 立式光学计 | 型号 | JDG-S2 |
这是我厂新研制的大量程、高的计量仪器。 本仪器是一种采用量块或标准件与试件相比较的方式测量物体外形尺寸的仪器。主要用于五等量块，柱型规及各种圆柱形，球形，线形等物体的直径或板形物体的厚度的精密测量，对被测件作微小位移测量。亦可用来控制精密件的加工。 技术参数 被测件长度 180 mm 直接测量范围 ≥10 mm 小显示值 0.0001 mm 测量力 (2±0.2) N 不准确度 比较测量时：±0.00025 mm 直接测量时：0.0005mm 测量误差 ±(0.5+L/100) μm L是被测长度,以mm 仪器体积 250X150X440mm 仪器重量 18kg 标准配件 可调带筋园台、可调园平台 平面测帽、平面测帽、小球面测帽、刃形测帽
