| 品牌 | ARCOS | 型号 | 全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪 |
- · 点
- · 1、可以直接测量远紫外光谱区域（130nm~160nm),在该区域内直接测量卤素元素（氯、溴），是目前可以测量卤素元素的全谱直读ICP光谱仪
2、“密闭氩循环、自净化光室”开机即可测量紫外和远紫外光谱区域，光室无须抽真空或吹扫
3、的一维色散三分光系统，在整个光谱区域内均保持恒定的光谱分辨率
实时化
在定性和定量测量时实现全谱测量，能同时记录分析样品中元素谱线的整幅谱图及测定时的各种参数，并可保存，自动检索。日后需分析样品中前次未测定的元素时，能快捷准确地测定，无须重新进样测定；对于已测元素，可以增加事先没有选择的谱线，无需重新进样测定
减排
氩气消耗量小：
1测量紫外和远紫外区域时光室无须用高纯氩气或氮气吹扫。检测器在低温工作时，不需要氩气吹扫，即可检测器表面结霜。 - · 技术参数
- · 性的设计，真正的全谱直读！！光谱范围130－三光栅:3600线/mm(2个),1800线/mm(1个动态范围大于等于8个数量级可在30秒内完成73个元素的全谱定量测试，分析速度:>=60个样品/小时短积分时间可与HPLC/GC联机使用
- · 主要特点
- · 一维色散＋32个CCD检测器设计，检测器无需温冷却，无需氩气吹扫保护全波长覆盖，为130－770nm的波长范围，可以分析ppm级卤素密闭充氩循环光路系统，检测190nm以下谱线，无需气体吹扫秒实现真正全谱数据采集，分析速度快气体流量采用质量流量计计算机控制，矩管位置3维步进马达计算机控制自动化程度高
- · 仪器介绍
- · 具采用的密封充气紫外光学系统和OPI水平观测等离子光学接口完成消除水平观测时尾焰的影响、全谱CCD技术和多视角等离子体定位等新技术，有高灵敏度、高以及波长范围宽（130nm-770nm)等特性，在ICP-O 领域开拓了的应用，可分析包括ppm级卤素在内的73个金属和非金属元素。
ICP光谱仪
SPERO ARCOS全谱直读ICP光谱仪
产品简介:SPERO ARCOS全谱直读ICP光谱仪(等离子体发射光谱仪)可广泛适用于科研、冶金、机械、石化、、食品、地质、生化等愈来愈复杂的元素分析需求!作为一种快速、简便和的分析工具与手段，ICP-O（电感耦合等离子体发射光谱仪）被广泛地应用在各种元素分析的领域。然而，目前商品化的ICP-O，由于其内在结构和性能的局限，无法满足愈来愈复杂的元素分析需求。SPERO ARCOS以其匠心的性设计，可好的满足研发、工业、、石化、地质、生化等领域的用户需要，尤其适合复杂基体样品的分析。
从SPERO ARCOS的外观上即可得知它出类拔萃的性能：富特色的光学系统在分辨率的基础上，可优异的稳定性和准确度。
SPERO ARCOS可以方便的安装在任何实验室中，仪器的表面经过的腐处理，而且在整个进样室内部也覆盖有耐强腐蚀液体的保护膜。的部件和水电气接头都分别放置，无须使用者拆装仪器，维护和保养更加方便。
从仪器的外观即可看出：SPERO ARCOS不同于传统的ICP光谱仪。仪器左侧突出的部分是的光学系统,它采用了的技术，具有的分辨率、准确度和稳定性。
另外，SPERO ARCOS采用坚固耐用的带陶瓷功率管的新型自适式发生器和固态电源，维护方便省气的UV-Plus系统，高光通量的真空紫外光室波长达130nm,数据读出系统的动态范围可达8个数量级，测量频率达10Hz。的ICAL逻辑校正系统可自动监控操作，仪器处于平稳的运行条件。
“art Analyzer Vision”图文式用户操作界面结构清晰，操作灵活简便。无论是合标准的测量还是准确定量重处理储存的谱线或创建分析方法，操作者均能体验到仪器简便直观的功能。
SPEROARCOS提供两种观测模式：轴向（水平）观测和径向（垂直）观测，新的帕邢-龙格光学系统在130nm到340nm波长范围内均可保持恒定的分辨率。
光学系统
优化的帕邢-龙格光学系统，再加上由铝合金所铸造的基座，为ICP技术了一个里程碑，它拥有的性能，在130nm到340nm光谱范围里像素分辨率是3pm,340nm或以上的光谱范围里像素是6pm。这种固定的分辨率值只能在帕邢-龙格光学系统上实现，它的优势在于能够以高分辨率的模式分析复杂基体（富谱线光谱），从而测量的。
值得一提的是，帕邢-龙格光学系统能在130nm到770nm光谱范围里，进行光谱的全图谱数据采集，就算是在远紫外区也能得到良好的灵敏度，这对于卤素测试，痕量元素分析，或是一些在远紫外区谱线灵敏度比较好的元素，都帮助很大。对于复杂基体的分析，通过选择在远紫外区不受干扰的谱线进行分析，可简化方法建立的流程和分析的度。远紫外区光学系统
光室采用氩气循环的方式，并装备有有净化装置的隔膜泵，了远紫外区域分析的灵敏度和仪器的长期稳定性，避免了使用吹扫-光室气氛不稳定，或真空装置-光学元件易被污染的问题。在远紫外区光学系统（UV-PLUS）里，不使用吹扫或真空装置，因此无须更换或清洁任何光学器件，所以远紫外区光学系统不需任何维护。
除了能在130nm到180nm这个远紫外区光谱范围里高灵敏度分析，它还可大幅度降低运行成本，在整个仪器使用周期里，与吹扫装置的ICP相比，远紫外区光学系统（UV-PLUS）可节省相当于三分之一的仪器采购成本。
SPERO ARCOS的之处包括的、长寿命、免维护的陶瓷管固态发生器，波长范围可130nm的远紫外区光学系统，动态范围可8个量级的数据处理器，以及10Hz的测量频率。
的智能逻辑校正系统ICAL持续监控SPERO ARCOS的工作状况，仪器在的状态下运行。
图形化操作界面的ART ANALYZER VISION操作软件，具有高度灵活的、清晰的架构，操作简单，无论是按照规范去定义测试流程，数据重处理还是自行建立方法，直观的操作界面让使用者得心应手，该软件可让SPERO ARCOS满足或行业的法规和需求。本软件的其他功能包括，自动存储分析方法，测量和自动优化。
检测器与数据读出系统
SPERO ARCOS使用32个线性检测器在130nm到770nm光谱范围进行光谱的全谱数据采集，与其他采用CCD检测器的ICP相比，SPERO ARCOS的检测器在实现低的暗电流噪声基础上，将工作温度设定为15℃，这样既了仪器的灵敏度，又无须使用大流量、高纯度的保护性气流吹扫检测器表面，大大降低了日常运行费用，而且还可避免因环境温度波动带来的干扰。每一个CCD均有的数字信号处理器。双CPU、32通道的数据读出系统对信号进行再处理。32个CCD，可在2秒内完成全谱信号的采集和运算；每一个像素的积分时间可根据信号强度而自动调整，数据读出系统能以10Hz的频率处理信号，可与LC.HPLC等联机使用。
快速的数据读出和8个数量级的动态范围，能消除溢出效应，并可在无须稀释样品的情况下直接进行痕量元素分析。
激发光源
激发光源采用风冷式陶瓷振荡管和高固态电源，频率为27.12MHz，输出功率为0.7至1.7KW，了SPERO ARCOS的等离子体有异乎寻常的稳定性。
免维护的激发光源无需任何电子或移动元件协助运行，可调整共振频率以适应各种样品，在测量各种变化很大的基体时，等离子体也可保持稳定。
相对于40.68MHz，27.12MHz拥有更大的频宽以适应各种基体复杂的样品。
在进行大负荷（如：样品等）样品分析时，一般需要消耗很大的功率，但是SPERO ARCOS的高频陶瓷振荡管以及由计算机控制的高固态电源，可降低功率消耗，减少能量损失，耦合效率和延长系统寿命。在等候情况下，操作者可选择待机模式”，以减少功率和氩气的消耗。
等离子体接口
水平观测模式适合进行痕量元素分析，的Optical Plaa Interface (OPI)接口，能灵敏度，可获得比垂直观测模式好十倍的检出限。\
统的ICP在水平观测模式时会采用尾焰切割”或延长炬管”来消除基体干扰的问题，而OPI则是直接穿透等离子体，把尾焰吹开，基体干扰。如果没有OPI，在同时处理各种变化很大的基体时，尤其是在方面的样品，会使得等离子体处于不稳定状态，并造成不良影响，例如回收率变差。
借助十多年的实际应用经验，OPI在经过进一步的改进后，简化了维护，并可定位。
在进行高和高准确度分析时，垂直观测模式SPI (Side-On Plaa Interface)是的选择，它的优点是能够在分析高盐、、悬浮状样品时提供更好的和准度。
全计算机控制的炬管定位系统，能自动优化OPI接口与等离子体的距离以及SPI接口的观测高度，这些设定可以与其他参数一起随方法保存，并可自动随方法调出使用。进样系统
样品是通过一个位于仪器右边的四通道蠕动泵进入仪器，这种设计能大幅缩短样品流程和冲洗时间，从而大地缩短了总分析时间。
利用全计算机控制的冲洗程序和自动进样器的协助，可进一步优化分析时间，对于一些工作量相对很大的分析，例如地质、土壤和油品测试，SPERO ARCOS可轻易完成每天1000个样品的测试。
宽敞和隔热的样品进样室，可以配合不同种类的进样系统，智能化的定位装置设计，使得雾化器和炬管的安装轻而易举，无须费时费力再校准。
冷却氩气、辅助氩气、雾化器氩气和附加氩气由软件控制，在方法中这些参数单独更改和储存，在需要时，自动优化程序会调整各项参数，该功能可让初学者更快掌握仪器的使用。
软件
SPERO ARCOS采用的ART ANALYZER VISION软件，各项功能一目了然，操作直观、简便，它满足了现代实验室的需求，也可以和LIMS系统结合使用。其它软件功能还包括数据重处理：也就是说更改已存储数据的参数或重选其它谱线，然后再进行分析。
