| 品牌 | 西凡 | 型号 | EXF7800 |
| 光源 | X光 | 波长范围 | 50（nm） |
| 焦距 | 50（mm） | 外形尺寸 | 500（mm） |
| 重量 | 50000（g） | 适用范围 | 珠宝店，饰厂，典当行 |
供应饰厂黄金纯度仪
EXF7200--是集西凡仪器多年贵金属检测技术和经验，以的产品配置、功能的测试软件、友好的操作界面来能满足贵金属成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。
EXF7200--贵金属检测仪使用而实用的正比计数盒探测器，（项目联系人金先生 ①③⑤③⑧②①⑧⑤②①）以实在的价格定位，满足贵金属的成分检测和镀层厚度测量的要求，且的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，加上全软件控制的自动调整移动平台和切换准直器的装置，使仪器操作更人性化、更方便。
应用领域：
黄金、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。
金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和检测机构；电镀行业。
激发源： Mo靶的X光管风冷(）
测量点尺寸：1～2mm
样品室: 长400 mm×宽: 300mm×高: 0～90 mm样品放大成像系统
软件： 菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算
计算机： 选择配置
检测器： 固定式半导体封气正比计数器微处理器控制的检测器和读出电路
其它规格：
电压: 100～127或200～240V,50/60 Hz
功率: 120W
处尺寸: 500mm*500mm*400mm
重量: 48kg
技术指标
分析范围： 1%～99.99%
测量时间： 自适应
测量： &plun;0.1%
测试环境： 常温常态
分析元素： Au、Ag、Pt、Pb、Rh、Ru、Cu、Zn、Ni、Cd﹑W
X射线源： X射线光管
高压器： 4～50Kv
分析： 多通道模拟
操作系统: Windows2000/Me/XP
