供应X射线荧光能谱仪

品牌	惠美仪器	型号	XR-806
光源	详见参数	波长范围	详见参数（nm）
焦距	详见参数（mm）	外形尺寸	550（W）×450(D)×450(H)（mm）
重量	60000（g）	适用范围	详见参数

一、产品简介    XR-806 X射线荧光能谱仪是集成了当今世界X射线荧光能谱分析领域的技术和公司科技人员深厚的理论基础、丰富的实践经验，为应对欧盟 RoHS指令量身定做的一款快速分析仪器，经过实践中的不断完善，性能可以满足电子行业检测限用物质的要求。整机结构合理、紧凑，每个部件都经过精心的选择和设计，经久耐用，性能，是电子行业成功应对欧盟RoHS指令和《中国电子信息产品污染物管理办法》的利器。   技术规格²        检测塑胶类样品和轻质金属材料中的Pb、Cd、Hg、总Br和总Cr检出限可以5ppm。²        检测Fe、Ni、Cu、Zn及其合金以及焊锡中的Pb、Cr等成份检出限可以100ppm, Cd的检出限可以20ppm。 仪器配置²        仪器部件采用美国Amptek公司生产的X-123系统，集成了Si-PIN高分辨率半导体X射线探测器、放大和整形电路、数字脉冲处理器以及脉冲高度分析器即MCA，限度地发挥探测器的性能。²         X射线管高压发生器采用美国Spellman公司生产的50W高压电源，性能指标，为仪器的长期运行提供了保障。²        采用厂家生产的薄铍窗X射线管，功率达50W，化封装，辐射和各项性能指标满足应用要求。²        配置多种经过精心设计的滤光片，使得XR-306型X射线荧光能谱仪不分析塑胶材料中的有害物质时可以高的，同时，分析金属材料中的Pb和Cd等有害物质也可以很好的。²        滤光片自动转换让操作人员无需掌握深入的理论即可进行准确的测量。²        推拉式开盖方式结合开放式样品腔设计地解决了样品的检测问题，做到小样品测试方便，大样品测试只要按系统提示操作同样能操作人员。²        精心设计的应用程序不可以使用户方便准确的检测，还提供漂亮的检测，对用户开放格式定 制功能，无论何种格式的都可以准确定制。此外还提供了数据输出到Excel表格的功能，方便用户进行 统计分析。²        高清晰度摄像头的设置不使检测图文并茂，结合所配备的多孔经准直器还可以对不均匀样品进行定点检测。Ø        开放式的软件设计，出厂前已配置了常用材料的分析方法，用户经过培训以后也可以建立自己的分析方法，拓展仪器的使用范围，如其他微量元素的分析和镀层测厚。 XR-806产品参数

仪器型号		XR-806
分析原理		能量色散X射线荧光分析法
分析元素范围		Na(11)-U(92)任意元素
检出下限		Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm
样品形状		任意大小，任何不规则形状
样品类型		塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等
X射线管	靶材	钼（Mo）靶
	管电压	5─50KV
	管电流	1─1000ｕA
样品照射直径		2、5、8mm
探测器		美国Si-PIN探测器，脉冲高度分析系统
高压发生器		美国SPELLMAN高压发生器
前置放大器		美国前置放大器，与美国探测器兼容性好
主放大器		美国主放大器，与美国探测器兼容性好
AD转换模块		美国AD转换模块，与美国探测器兼容性好
ADC		2048道
滤光片		6种滤光片自动选择并自动转换
样品定位		微动载物平台（选配件）
样品观察		130倍彩色CCD摄像机
微区分析		X光聚焦微区分析系统（选配件）
分析软件		软件产品 BX-V1.5版本，升级
分析方法		理论α系数法、基本参数法、经验系数法
操作系统软件		WINDOWS XP（正版）
数据处理系统	主机	PC商务机型
	CPU	≥2.8G
	内存	≥512
	光驱	8xDVD
	硬盘	≥80G
	显示器	17寸液晶显示器
工作环境		温度10－35С，湿度30－70％RH
重量		60Kg（主机部分）
外形尺寸		550（W）×450(D)×450(H)mm
外部供电电源要求		AC220&plun;10%、50/60Hz
测定条件		大气环境
测试样品时间		100－300秒可调

 三、XR-806系列特点Ø       “七.五”与“九.五”荧光分析仪科技攻关的成果；Ø       的理论α系数法分析方法，国内；Ø       直接生成人性化分析，也可在分析软件中定制各种风格的分析；Ø       全封闭铅板双迷宫措施，合标准；Ø       可以分析Na-U的元素（需相关标准样品）；Ø       无需制样，快速分析；Ø       主要部件，稳定性好、分析高、故障率低；Ø       国产侧窗型X光管，性能稳定，寿命长（5年）更换成本低；Ø       全中文操作分析软件，对操作人员要求不高；Ø       大的分析管理软件，方便查询历史数据；Ø       自动转换滤光片系统，国内；Ø       分析不同类型样品参数自动设定，无需人员操作；Ø       130倍彩色CCD摄像机可监控样品测量位置；Ø       的微动载物平台可以微调样品测量点（选配）；Ø       的X光聚焦微区分析系统可以分析电子元器件微小部位（选配）；Ø       美国电制冷探测器，无需添加液氮，操作维护简单。Ø       可测量涂镀层厚度。 四、仪器硬件部分 

4．1美国AMP-TEK Si(PIN)半导体制冷探测器

探测器的分辨率是评价能量色散X荧光光谱仪性能的主要指标之一 分辨率    <  145eV (分辨率越低则灵敏度越高)计数率    >  3000/S晶体面积  >  15平方毫米铍窗厚度  =  0.025mm探测功率  <  1.2W 4．2、美国AMP-TEK DP40多道脉冲幅度分析器（俗称谱仪能量刻度）通道数    2048道 4．3、美国AMP-TEK P-3电源控制器系统电源控制+5 VDC at 250 mA (1.2 W)恒定制冷控制  400 VDC 

4．4、低功率小型侧窗X射线发生器（俗称X光管

经过处理X光管可对2英寸的0.25mR/hr 的射线进行屏蔽, 罐缘油用于高压缘和冷却， 0.005英寸铍窗标准窗口，额定功耗为50瓦、额定电压为50千伏。<设计使用寿命>15000小时。 4．5、美国SPELLMAN高压发生器

输      入:  85～265Vac,47～63Hz,功率因数校正。1kV～5kV的型号合UL85～250Vac输入标准电压变动率:  无负载到满负载，输出电压的0.01%电流变动率:  0～额定电压，输出电流的0.01%纹      波:  输出电压的0.25%峰-峰温 度系 数:  电压或电流调定，0.01%/℃稳   定 性:  预热半小时后，0.05%/8小时 4．6、滤光片自动转换系统4．7系统1、重新设计的低辐射X射线管经过处理（从源头做起）2、全封闭铅板双层迷宫辐设计（从设计结构做起）3、全自动铅板滤光片自动屏蔽装置4、舱门意外开启X射线强制中断装置  5、测试与X射线警示系统6、X射线剂量仪出货检测并接受监督 4．8、仪器外围配套设备HP 计算机系统CPU P4 3.0内存    512 光驱    8X DVD硬盘    80G   显示器  17寸液晶显示器Windows XP操作系统HP 彩色喷墨打印机