| 类型 | 干涉显微镜 | 品牌 | CEWEI |
| 型号 | 6JA | 仪器放大倍数 | 500X |
| 目镜放大倍数 | 12.5X | 物镜放大倍数 | 40X |
| 适用范围 | 测量精密加工件表面（平面、圆柱等外表面）光洁度的仪器。也可以用来测量件表面刻线、刻槽镀层（透明） |
一、用途：
6JA干涉显微镜是用来测量精密加工件表面（平面、圆柱等外表面）光洁度的仪器。也可以用来测量件表面刻线、刻槽镀层（透明）等深度。仪器配以各种附件，还能测量粒状，加工纹路混乱的表面，低反射率的工件表面。同时还能将仪器安置在工件上，对大型工件表面进行测量。仪器测量表面不平深度范围为1-0.03微米，用测微目镜和照明方法来评定▽10-▽14光洁度的表面。本仪器适用于厂矿企业计量室，精密加工车间，也适用于高等院校，科学研究单位。
二、主要技术参数：
• 目镜：测微目镜12.5X，测微鼓轮分划值0.01mm
• 仪器放大倍数：500X
• 仪器视场：ф0.25 mm
• 物镜：40X，数值孔径0.65mm，工作距离0.5mm
• 标准镜：高反射率≈50%，低反射率≈4%
• 工作台：升降范围5mm，XY方向移动范围≈10mm，
360度旋转
• 绿色干涉滤：波长λ≈5300A，半宽度▽≈100A
• 测量表面光洁度范围：▽10-▽14
（相当于测量表面不 平深度范围为0.1um-0.03um）
• 光源：电珠灯泡6V15W，亮度可调
