| 类型 | 微分干涉工业显微镜 | 品牌 | CEWEI |
| 型号 | CW-DIC95/45 |
微分干涉工业显微镜
用途: DIC95/45落射微分干涉工业显微镜由日本WDK公司潜发，件经测维工厂精心组装而成，其光学品质国外同功能台式机水平，在技术上填补了国内这方面的空缺，又因为是整系列奉献所以不用再东拼西凑的组合成套，具有很的兼容性。DIC95/45落射微分干涉工业显微镜属于远和有限远两个光学系统，除选配的物镜外，其他的功能质量都是之作，光源可选LED和光纤冷光源，主要是为了适合不同预算的客户挑选，件和的光学系统均有部件组装由国外技术工程师把关调试和技术控制，整套DIC系统 ，物镜上方的DIC棱镜可作水平和上下微调，两个方向的线偏振光分合所形成的浮雕图像，的立体感，适合于芯片封装后的品检很微小的突起，细微划痕的观察，测量，这在通常光学系统是无法观察的。也是国内款国际新科技落射微分干涉工业显微镜。
微分干涉工业显微镜
物镜上方使用设置了的DIC棱镜，照明光横（侧）方向挪动的2个光线分离试料照明。能立体地观察根据试料直接反射了的2个光线差的阴暗，发生观 察很难的小的等级差别。光路差成为颜色的变化，微小等级差别观察更加灵敏度很好的能观察。用通常的光学系适合难观察硅片的细微伤的检验，基础的压按部分 的凹凸观察。
