品牌 | TA | 型号 | TA-HITE |
类型 | 二维测高仪 | 测量范围 | 415mm |
误差 | 0.003 | 测量 | 3+L/300 |
测量分辩率 | 0.0005 | 电源 | 电压转换器 110-240V 50-60赫兹交流电 |
重量 | 25(kg) |
适合于生产线的测量
测高仪是放置于平台上进行单轴测量的仪器,理想的情况是花岗石平台。我们提供的TA-μHITE是一种平台与测高仪结合在一起的测量系统,功能的测高仪主要用于在线或批量检测,一台或一群机床上直接进行测量,是对于一些尺寸要求严格的工件在生产过程中的调试和抽样检测有用。
TA-HITE or TA MICRO-HITE,无论手动还是自动,需要的技能,几乎生产线的人可以轻松的掌握使用。
SCS校验证书
产的TA-HITE和TA MICRO-HITE生产线现在也已经有了自己的由SCS合格的温度控制实验室,因此,每一款测高仪都包含有的SCS的校验证书。
几乎可以忽略的温度变化(20°C &plun;0,1°),以及采用高的步距规,在校验过程中可以做到的测量不确定度。
- 步,已装配完成的测高仪系统误差的自动补偿所需要的数值将通过计算机辅助(CAA)获得。
- 一旦计算完毕,每个单一的补偿值将被存储在测高仪内存中以便在校验中自动的对测量值做出校正修改。
- 后,基于通过测量另外一个步距规所获得的一系列测量数据得到相关的校验证书,校验步骤和SCS都每一款测高仪可以追溯到标准。