供应VEGAFLEX66导波雷达物位计

测量原理
高频率的微波脉冲沿着一根缆、棒或包含一根棒的同轴套管运行，接触到被测介质后，微波脉冲被反射回来，并被仪表的电子部件接收，且分析计算其运行时间。微处理器识别物位回波，分析计算后将它转换成物位信号给出。由于其测量原理简单，VEGAFLEX可以不带料调整，从而节省了大量的调试费用。测量缆和棒可以截短，使之更加适应现场的应用。

对于蒸汽不敏感

即使在烟雾、噪音、蒸汽很强烈的情况下，测量也不受影响。
 
不受介质特性变化的影响
　被测介质的密度变化或介电常数的变化不会影响测量。

不受被测介质粘附影响
　在测量探头或容器壁上粘附介质不会影响测量结果。

容器内安装物

  如果采用同轴套管式的VEGAFLEX，测量不受容器内安装物的影响，比如：加热管或支撑物等，且不需要调试。

VEGAFLEX的不同应用

由于VEGAFLEX导波雷达物位计提供了不同形式的微波导向传播途径，测量的量程及介质受其影响，按其提供的形式分以下几种：

形式      测量介质                    量程

缆式      用于测量液体或固体介质      ≤60m

杆式      用于测量液体或固体介质      ≤6m

同轴套管  用于测量低黏度的液体介质    ≤6m

界面的测量

VEGAFLEX67专门用于测量液体介质的界面。为了这个的应用，不但从机械结构上，而且从电子部件上都进行了优化。

界面测量的前提条件

上层介质(L2)：

1.       可以为不导电介质；

2.       须知道L2的介电常数（为了使其测量准确，调试时需要输入）。小介电常数：棒式1.7，同轴管式1.4；

3.       L2须稳定，且介质不能更换，混合比列不能改变；

4.       上层介质须是同质的，内部没有分层；

5.       上层介质的厚度至少100mm；

6.       上层介质和下层介质分层要明显，没有乳化状，没有腐化层；

7.       上层介质尽量不要有泡沫。

下层介质（L1）：

1.       L1介电常数比L2介电常数至少大10，是导电的。

界面测量的输出信号

界面可以通过传感器直接进行分析处理。模拟量输出（4…20mA）将界面的高度（h1）转换成百分数。这个数值也正是要被调整的数值。仪表在供货时已经设定好传感器长度和上部的区（0%/100%）。PLICSCOM显示调整模块和调试软件PAware显示出界面的距离和到上一层介质表面的距离。HART协议可以传输到界面的距离和到上一层介质表面的距离。这些数据可以通过信号处理仪表VEGAMET625或任何基于HART通讯的分析处理系统进行分析处理，不如：接口模块。VEGAMET625还可以计算两个数值的差值。差值即为上层介质的厚度。

主要性能参数