- 品牌/商标：-
- 企业类型：贸易商
- 新旧程度：全新
- 原产地：韩国
使用K-MAC公司的先进光谱系统，可以很快、很容易地测量透光或者半透光薄膜的厚度、折射率及消光系数。简单地将K-MAC系统插入您电脑的USB口，并开始进行测量。整个系统只需要几分钟来搭建，而测量过程也仅需要基础的电脑知识。
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应用领域： 半导体 多晶硅, GaAs, GaN, InP, ZnS, SiGe … 电介质材料 SiO2, Si3N4, TiO2, ITO, ZrO2, BTS, HfO2 … 聚合物 PVA, PET, PP, PR … LCD a-Si, n+a-Si, ITO, 氧化物, 液晶盒, 光阻材料膜，聚酰亚胺膜，石英 … 光学镀膜 硬镀，抗反射膜，滤光片，包装膜，功能膜 可记录材料 感光鼓，视频头，光盘 … 其它 CRT和显象管荫罩上的光阻材料膜，薄金属膜，激光镜，AlQ3… |
