| 产品型号 | 高温反偏 | 产品规格 | HTRB/HTGB |
| 用于各种封装的的二、三管、桥堆、MOSFET和可控硅等分立器件进行高温反偏高温栅偏试验（HTRB/HTGB）、高 温漏电流测试（HTIR）和老化筛选, 根据客户对设备的要求，价格也有所区别 |
杭州汉瑞电子有限公司成立于1999年，从事半导体元器件老化测试座、老化测试板、老化测试设备的开发和生产。
公司投入大量资金和人力先后开发了100多个品种的高温老化测试座，一改过去老化测试座清一色的局面，不为广大客户降低了成本，而且大大缩短了采购周期。
2002年老化测试板系列质量升级，使用寿命延长50%以上，高温老化板整体品质国内同行，处于国际。
2003年，公司通过ISO9001-2000，同年产品开始进入国际市场。
在半导体制造商中，公司已经拥有不少的客户，并与他们一直友好合作。
公司拥有经验丰富的人才和的生产设备，可为您提供优质的服务。
