| 品牌 | 金片深度测试仪 | 型号 | XL-99 |
| 类型 | XL-99金片深度测试仪 | 测量范围 | ***（KN） |
| 测量 | *** | 负荷 | **（KN） |
| 拉伸空间 | **（mm） | 拉伸速度 | ***（mm/min） |
XL-99金片深度测试仪
一、概述本试验装置: 为桌上型,如结构图标,可检测PLUG金片深度。适用于各式PLUG金片深度测试，(&plun;0.02mm)高，操作简便。 二、主要技术指标1.比测台：花岗石。 200×150×60mm（长×宽×高），00级（合/T 7975标准）。2.百分表: 指示金片深度。 日本三丰表,指标式；测量范围: 0.01～10mm,小分度:0.01mm。3.百分表杆: 往下压时,可将针状测头提起，以便测试。4.针状测头（SR 0.2mm）。5.PLUG金片治具：固定PLUG金片用，标配一个4P/6P/8P(10P)择一。6.固定钮(百分表支杆): 调整高低位置时,须先旋松,高度调整正确后,须旋紧。
关键词：XL-99金片深度测试仪、电话芯片深度测试仪、晶片深度测试仪、水晶头深度测试仪
