| 品牌 | I-33C 集成电路测试仪 | 型号 | I-33C 集成电路测试仪 |
| 测量范围 | 集成电路测试仪 | 测量 | 集成电路测试仪 |
| 产品用途 | 集成电路测试仪 |
*器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。 可 测 器 件（1300多种） 1. CMOS40系列：103种。
*器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。
*器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。
*器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。
*内部RAM数据修改：I-33C可从键盘对自己内部RAM 中的数据进行随机修改。
* EPROM、EEPROM器件读入：I-33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入
并保存。
* EPROM、EEPROM器件写入：I-33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM
器件中，并自动校验。
2. CMOSMC140系列：103种。
3. CMOS45系列：60种。
4. CMOSMC145系列：60种。
5.光耦合器系列：133种。
6. TTL74/54系列：714种。
7. TTL75/55系列：82种。
8. 数码管系列： 0.5吋共阳[001]；共阴[002]；0.3吋共阳[003]；共阴[004]；0.7吋共阳[005]；共阴[006]。
10. EEPROM系列：01
11. EPROM系列：12
12. 微机外围电路系列： Z8OC(8O2)
13. 常用单片机系列：
14. 其他系列： 3 446MC1413(2003) MC1416(2004) MC14160(40160) DG201 MC14161(40161) MC14162(40162) MC14163(40163) TIL308 MC14189(75189) 2902(324) 8T26(826) AD7506
