元素分析范围:从K到U
性可同时分析多层镀层
分析厚度检测出限达0.01um
同时可分析多达5层以上镀层
相互独立的基体效应校正模型,先进厚度分析方法
多次测量重复性可达0.01um
长期工作稳定性小于0.1um(5um左右单镀层样品)
温度适应范围:15℃~30℃
输出电压220±5V/50HZ(建议配置交流净化稳压电源)配置
开放式样品腔
二维移动样品平台
探测器和X光管上下移动可实现三维移动
双激光定位装置
准直器自动切换装置
玻璃屏蔽罩
正比计数盒探测器
信号检测电子电路
高低压电源
X光管
计算机及喷墨打印机
样品腔尺寸:517mm×352mm×150mm
外型尺寸:648mm×490mm×544mm