| 类型 | 镀层测厚仪 | 品牌 | 中科院 |
| 型号 | HM-DT-A | 测量范围 | 0-0.000001（mm） |
| 显示方式 | 数示 | 电源电压 | 220（V） |
| 外形尺寸 | 450*330*120（mm） |
特点： 1、全自动数显显示，测量速度快，高，可达0.01um 2、可测量单金属镀层、合金镀层、复合镀层等，选购连电脑装置可测多层镍，迈金等微薄镀层 3、可测量中、高电位装饰铬、锌，可测量低电位镀锡层 4、选购1mm探头可测量微小试样之厚度 5、选购移动测试架可测量针状、棒状等试样。 规格： 1、测量范围和：0.01（0.0025）um-50（100）um,≤&plun;10% 合国标标准ISO2177-85 2、测量品种： 铜、镍、铬、锌、锡、银、镉、铟、金 Kind: Cu,Ni,Cr,Zn,Sn,Ag,Ge,In,Au A、单金属镀层；B、合金镀层；C、复合镀层；D、多层镍镀层； E、化学镀镍；F、线材上镀层 3、输出方式：厚度四位数字显示(其中两位小数) 3、电源：AC220V&plun;10% 50Hz 4、仪器功耗：≥30VA 5、检测平面积：Ф1.4mm或Ф1.0mm（选购品）以上 6、本机型之打印机可选购
