| 类型 | 镀层测厚仪 | 品牌 | 中科院 |
| 型号 | 测量范围 | 0-0.003（mm） | |
| 显示方式 | 数显 | 电源电压 | 220（V） |
| 外形尺寸 | 280*240*100（mm） |
说明：型金属镀层测厚仪是对导磁性基体上金属镀层厚度进行非破坏性厚度测量的仪器。它既可测平面导磁性基体上的金属镀层的厚度，也可测各类异型面导磁性基体上的金属镀层的厚度。该仪器体积小、操作方便、性好，适应于各种使用环境。
功能特点：微点小探头点测范围小于1mm，了凹凸曲面、细薄件测量难题；并能在，完成对镀层连续的测量扫描，测量已经X荧光同一等级；还由于采用频，使得钢铁基体的成分差异造成的位偏差大大缩小。
适用行业： 机械和汽车转轴硬铬镀层测量，电子行业金、银贵金属镀层测量，细、小、薄物件和印刷线路板镀层测量，普通金属件镀锌，镍，钛等单一镀层测量。 主要技术指标： 测量范围： 0－30µ 小曲率： 无限制 小测量面积： φ1mm 小基本厚度： 0.5µm 显示单位： 0.1µm 电源： 180～240VAC，50HZ。 仪器尺寸： 280×240×100 mm
