BERTScope BSA 系列误码率分析仪

主要特点和优点

• 高达26Gb/s 的码型发生、误码分析和BER 测试能力
• 集成的高带压力测试信号生成
• • 100MHz 的正弦抖动(SJ)频率
  • 随机抖动(RJ)
  • 有界不相关抖动(BUJ)
  • 正弦干扰(SI)
• 加压力的电眼图测试包括：
• • PCI Express
  • 10/40/100 Gb 以太网
  • SFP+/SFI
  • XFP/XFI
  • OIF/CEI
  • Fibre Channel
  • Serial ATA I/O
  • USB 3.0
  • 更多
• 抖动裕量(Margin)测试、抖动容限一致性模板测试
• 集合模板测试、抖动峰值、BER 轮廓和Q- 因子分析于一身 的物理层测试套件
• 可变深度的眼图和模板测量s
• 集成的眼图和BER 相关分析
• 为满足XFP/XFI和OIF-CEI等新标准所要求的误码率水平 为10-12 的模板性能评估，提供了一致性Contour 测试
• Jitter Map选件系统丰富的抖动解析-使用长码型(如:PRBS31) 抖动三角形测量法
• 丰富的差分分频时钟输出，提供仪器级的时钟源
• 的错误定位分析技术

应用

• 设计验证包括信号完整性、抖动和时序分析
• 对高速串行系统、复杂设计的性能测试
• 工业高速串行数据流标准验证、鉴定测试
• 设计/ 验证高速I/O 组件和系统
• 信号完整性分析- 模板、峰值抖动、BER 轮廓、Jitter Map 和Q- 因子分析
• 设计/ 验证光发射接收机

多域观测

眼图一直作为系统性能简单、直观的表现，但是很难和BER性能联系起来，因为测试仪器从根本上有很大的差别。示波器测量的眼图是由较少的测试样本组成，不容易发现一些罕见偶发的事件。误码仪 (BERT) 能够对每一个比特计数，因此能够提供基于很大量数据集样本的测试，但是测试结果缺乏对信息的直观的表征和故障排查。

BERTScope结合两者的优势，允许快速、简单的观测眼图，并比传统的眼图测试样本多至少多两个数量级。可以按照上图的例子中所示的那样，通过简单的移动BERT 的采样点，将光标放在感兴趣的地方，使用强大的误码分析能力，获得更多更深入的信息。例如，检查码型对当前上升沿影响的敏感程度。或者，使用一键式BER Contour测量，检验是否性能问题是有界的，或者可能会导致哪些故障。在每一个例子里，测试样本码型可以是2³¹-1的伪随机码，可以帮助建立模型或者故障定位。

简化Tx 端测试

使用BERTScope模板功能和DCRj12500A参考接收机测试光模块Tx 端

无论数据通道是光接口还是电接口，BERTScope 都会提供前 所未有的洞察力。除了传统的视图和测量之外，BERTScope 能提供更多的信息帮助调试、性能测试，加速产品的设计。

数据丰富的眼图

BERTScope测试光接口信号。在这个例子中，使用了Picometrix接收机，并自动切换光域测量。

正如前面所示，BERTScope 在测量数据样本深度方面与传统的眼图测试有着巨大的差异。这个差异意味着你能看到更加真实的情况，无论是什么样的系统，更多低概率事件将会随着每次长数据码型运行而出现，不管是有随机噪声，还是从VCO引起的随机抖动。通过一键式的BER Contour、抖动峰值和Q-因子测试，能够增加对系统更深层次的认识，增加对设计的信心。

深度模板测试

由于可以改变采样深度，因此BERTScope 即可以利用深度测量，得到高的系统的性能，又可以用少量样本测试，和取样示波器的测试结果匹配。在上图所示的是光接口的眼图测试。如果将BERTScope的采样深度仅设置为3000 个波形，BERTScope 在1 秒钟之内就能生成眼图。测量得到的裕量有20%，和取样示波器的测试结果一致。下面一点的图显示的是使用一致性轮廓测量得到的误码率水平为10^-6的结果，模板裕量减少到17%。

眼图测试样本深度优势至少是模板测试的10倍。不像其他误码仪提供的“伪”模板测试那样，BERTScope能对模板边沿的每一个样点进行采样，包括在眼图之上和之下的区域。不仅如此，每一个点都能看到之前从未看到过的深度。这意味着既是使用工业标准化模板或自定义模板持续测试几秒钟，也能确保被测设备没有隐藏的问题。

为工业标准提供高的抖动测试

无论测试码型的长短，靠推算得到抖动结果得方法是不能达到抖动测量的。BERTScope 能快速测量误码率水平为10^-9(高速信号可达10^-10)，或者等待仪器直接测量到10^-12水平。对于这两种测试方法，BERTScope 的一键式测量都严格符合MJSQ 定义的抖动测试方法，并且BERTScope 中内部的延迟 控制是误码仪中的，可以确保抖动测试的。可使用内建的抖动计算模型，包括TJ，RJ，DJ，或者将测试数据输出，进行自定义的抖动建模分析。

模板一致性轮廓测试

前许多的测试标准像XFP/XFI和OIF CEI等都定义模板测试，其目的是确保在误码率水平为10^-12时眼的张开度。一致性轮廓(等高线)视图可以方便的了解到在不同误码率水平下模板是否通过。

快速选型指南

型号	比特率	带压力眼图 – SJ, RJ, BUJ, SI	类型
BSA260C/CPG	26 Gb/s	Opt. STR	信号发生器/ 分析器
BSA175C/CPG	17.5 Gb/s	Opt. STR	信号发生器/ 分析器
BSA125C/CPG	12.5 Gb/s	Opt. STR	信号发生器/ 分析器
BSA85C	8.5 Gb/s	Opt. STR	信号分析器

灵活的时钟模式

BERTScope STR 选项的时钟路径

BERTScope 非常有特色时钟产生路径，为现实世界中不断涌现出的设备提供了灵活的测试方案。无论是电脑插卡还是硬盘，通常都需要提供子速率(sub-rate)系统时钟，例如PCIExpress^?中100MHz的时钟。为了能使被测系统正常工作，需要提供差分的系统时钟，而且时钟的幅度、偏置各有不同；BERTScope 内部提供灵活的分频系数，其灵活构架可以完成各种时钟的生成。

PCI Express Tx 端测量- 上面的截图是用BERTScope 进行的一致性测量。PCI Express 子卡插在一致性测试板中，BERTScope 提供正确幅度和偏置的100MHz 的差分信号作为时钟。使用BERTScope CR(时钟恢复模块)为子卡输出的数据信号按照一致性要求的环路带宽进行时钟恢复。左上图显示的是被测设备通过了相应的测试模板。右上图是该信号使用Q- 因子算法得到的去加重平均幅度。下方的两截图是对于跳变位所做的同样的测量。

扩频时钟(SSC)通常用于串行系统中，以减小EMI 的干扰。BERTScope可以调节的SSC的调制幅度、频率和调制的轮廓，如三角波、正弦波等，因此允许测试任何一种使用SSC技术的一致性标准。还可使用额外的调制器和信号源产生耦合了高幅度、低频率的正弦抖动(SJ)的时钟。

处理闭合的眼图

BERTScope 的用户界面设计友好、操作简单。上图显示的是不同tap权重对预加重影响的时域特性。下方的波特图显示是滤波器如何补偿通道的损耗。

随着通道中电信号的数据率越来越快，通道的损耗经常导致信号在Rx端的眼图闭合。在实际的系统中，常使用Equalization(均衡)补偿通道的损伤，以得到“张开的眼图”。Tektrnoix 提供了强大的工具来帮助设计者测试和鉴定Tx/Rx组件是否满足标准。

对于Rx测试，DPP125数字预加重器为BERTScope增加了经校准的预加重输出，用以模拟Tx 端的预加重特性。预加重目前广泛使用在10GBASE-KR, PCIe, SAS, DisplayPort^?, USB3.0 等标准中。

特点：

• 1-12.5Gb/s 时钟频率
• 两种型号分别支持3- 阶或4- 阶tap
• 灵活的光标位置，允许预设光标和置后光标

PatternVu

PatternVu

PatternVu 选件是一套软件实现的FIR 滤波器，能够在眼图显示之前使用。在使用均衡的Rx 系统中，PatternVu 能够观测、测量在Rx 端均衡之后、判决之前信号的眼图，即能将均衡的影响包含在测试结果中。均衡器多允许有32个tap，并且可以选择每个UI 的tap 分辨率。

PatternVu还包括CleanEye功能，即码型固定的、经过平均处理后的眼图，可以去除眼图的非确定性抖动分量。CleanEye能够在存在大量Rj 的情况下，清晰的看到ISI 对系统的影响。

单次波形数据值输出是PatternVu 的一个部分，能够显示所捕获的固定码型中的任意一个比特，非常类似实时示波器中的单次捕获功能。一旦被捕获，波形数据能够以多种格式输出，以便使用其他工具进行分析。

FIR Explorer Tap Optimizer

FIR Explorer Tap Optimizer

为某一个特定的信道确定优的均衡器tap权重是一项非常单调的工作，特别是需要手动反复不断的摸索。FIR Explorer TapOptimizer 是通过所提供传输通道的S 参数，直接决定FIR tap权重的工具。这个工具可以直接接受所需响应的S 参数数据，或者将实际的通道响应取反，以获得优的响应。用户可以选择tap 的个数，将精力放如何匹配某一频段内的响应，以避免提升不必要的带外噪声分量。整个设置过程通过一个图形化界 面完成，并将结果响应和目标响应的系统函数同时描绘出来。

时钟恢复

直观用户界面提供了对所有操作参数的简单控制。独特的环路回馈视图描绘了环路带宽的特性-该图是真实测量的结果，而不是数据设置过程

Tektronix的CR125A, CR175A, 和CR280A产品提供了灵活的一致性时钟恢复方案。许多标准的抖动测试要求使用指定环路带宽的时钟恢复。使用不确定或未知的环路带宽将带来错误的抖动测量。Tektronix新的时钟恢复仪器能够为各种标准测试提供简单、的测量。

显示和测量SSC 抖动波形

SSC Waveform Measurement


Tektrnoix CR 和CRJ 不受到BERTScope 的限制，还可以配合其他仪器使用，如取样示波器或误码仪等。可以和其他已有的仪器组成一致性测量系统。

扩频时钟(SSC)在新的串行标准中经常使用到，以减小EMI干扰，例如：SATA，PCI Express和下一代SAS。Tektronix CR家族支持扩频时钟的恢复，能够显示和测量SSC调制波形。包括了、小频率偏差(ppm或ps为单位)、调制变化率(dF/dT)和调制频率等自动化测量项目。也包括了数据速率的显示以及简单易用的垂直、水平光标。

抖动分析

抖动频谱测量

配有GJ 选项的Tektronix CR125A、CR175A 或CR280A，可以和取样示波器或者误码仪一起使用进行DCD 和实时抖动频谱分析。抖动频谱显示频率范围从200Hz 到90MHz，可以使用光标进行测量。可以使用用户可设置的频率限定进行抖动的带限测量(上图例子中是PCI Express Gen2预设的带宽限制和抖动测量)

Rx 端压力眼图测试

像进行PCI Express 这类的串行总线一致性Rx 端压力测试，通常需要用到多台独立的仪器和设备，不得不花几个小时去设置仪器、连接被测设备。通过BERTScope一台仪器，以及测试向导来控制所有的经校准的压力源，非常方便的进行Rx 端的压力测试- 这些都是在一台仪器中完成的。该方案不需要外部电缆、混频器、耦合器、调制器，减少了校准过程，大大简化了压力测试的校准和测试。

外部连接的网络随时都在变化，这构成了Rx 端测试的一大挑战。虽然像误码测试和Rx灵敏度测试非常的重要，但在现实世界，像10Gb/s的背板系统和其他高速总线的Rx 抖动容限性能必须要考虑到。压力眼图测试(Stressed Eye Testing)现在在许多的工业规范中变得越来越常见。另外，工程师可以利用压力眼图测试来发现Rx端接收性能的极限，用以检查系统在设计和生产过程中的裕量。

灵活的产生信号损伤

各种的压力损伤


许多标准要求测试在不同频率、不同幅度、不同调制的SJ 对Rx 的影响。BERTScope 内建的抖动容限功能通过用户自定义的容限模板，自动的完成这项测试。同时，BERTScope 还提供了许多标准的测试库供用户使用。

BERTScope 内建了高质量、经校准的各种信号损伤源，包括RJ、SJ、BUJ 和SI。

ISI 是许多标准中常见的信号损伤类型。BSA12500ISI 差分ISI板提供了可变的链路长度，产生各种ISI 干扰。

压力眼图测试选项


BERTScope 码型发生器

BSA125CPG, BSA175CPG, 和BSA260CPG 系列码型发生器提供了完整的PRBS 码型发生功能，支持标准和自定义码型。STR 选项可以产生集成的、经校准的压力信号，可以替代传统多仪器、手动校准的方案。

码型捕获

码型捕获

对未知的输入数据有几种处理方法。对于上面所讨论的实时在线数据分析，BERTScope 还提标配了一个非常有用的功能-码型捕获。该功能允许用户指定重复码型的长度，BERTScope连续的捕获指定长度的数据，长度可达128Mb。这笔数据可以作为新的判决器的参考码型，可以编辑、保存以便未来使用。

强大的误码分析功能- 在这个例子中，眼图测试结果和BER 联系在一起，发现并解决了内存控制芯片的一个问题。左上角的眼图显示了在信号在十字交叉区域出现比正常眼图所少见的特征。接着将BER 判决点移动到该区域上仔细勘察。误码分析结果显示出问题特征和码型中第24 个标记位有一定的联系。进一步调查发现和IC 内部的时钟分频有关；系统时钟是输出数据速率的24分频。重新设计芯片中增大了对时钟链路的隔离后，就能得到右下角所示的干净眼图。

抖动测量

物理层测试套件

数据速率在Gb/s 的信号其眼宽就几百个皮秒，甚至更少。因此的抖动测量是控制抖动预算的重要部分。BERTScope提供两套工具来完成这些重要抖动测试。

物理层测试套件使用广泛认可的Dual Dirac方法测试总体抖动(Total Jitter)和对总体抖动的分离，随机抖动(RJ)、确定性抖动(DJ)。BERTScope 采用的是误码仪的方法采集数据，样本深度远大于示波器测试抖动时所采集的样本深度，并很少采用推算的方法测量抖动。从根本上讲，这种方法的测试比高度依靠推算的方法的要高很多。

Jitter Map

Jitter Map 是BERTScope 上新的抖动测量套件。该套件提供了复杂的分析子集，除了RJ和DJ 之外，还包括了许多更高速的标准一致性测试中定义的抖动测量。Jitter Map 能在长码型上(例如PRBS31)进行抖动测量和分离，也支持非PRBS 的实时在线数据抖动分析(需要实时数据分析选件)。

主要特性包括：

• DJ 分解为有界不相关抖动(BUJ)，数据相关抖动(DDJ)，码间干扰抖动(ISI)，占空比失真抖动(DCD)，包含F/2 抖动在内的子速率抖动(SRJ)
• 基于误码测试(非推算)的TJ测量，误码率水平可以到10-12甚至更小
• 区分相关和非相关性抖动分量，减小对长码型的DDJ 和RJ测试的混淆
• 可以测量小眼张开度的抖动
• 增加了其他仪器所没有的抖动测试项目：加重抖动(EmphasisJitter)，非相关抖动(Uncorrelated Jitter)，数据相关性脉宽损耗(DDPWS)和非ISI 抖动
• 直观的抖动分离树显示

接口卡在线测试

Jitter Peak and BER Contour measurements made on live 数据.

BERTScope 提供的实时数据分析选项可为高速线卡、主板和实时的数据提供物理层测量。BERTScope 采用了新型的双判决(Dual-decision)系统，可以进行参数测量，如一致性标准的眼图测试、抖动、BER 轮廓和Q- 因子等- 所有的这些测试都需要时钟信号。Jitter Map 选项能够对实时的数据进行深入的抖动的解析，而无需对不知道码型长度、或者无法预知数据流中插入的闲散符号而感到无助。故障定位和调试变得非常的简单，只要按一个键就能洞察被测系统物理层的情况。

性能指标

码型发生器

输入/ 输出指标

图1：幅度范围。


图2：允许输入的端接电压和偏置电压组合。幅度摆幅范围是0.25V到2V，应该满足上图所示的阴影范围。例如SCFL使用0V端接，工作在0~-0.9V 之间，如上图虚线所示，符合工作电压要求。

时钟输出

特性	说明
频率范围
BSA85C	0.1-8.5 GHz
BSA125C, CPG	0.1-12.5 GHz*1
BSA175C, CPG	0.5-17.5 GHz*1
BSA260C, CPG	1-26 GHz*1
相噪	<-90dBc/Hz 在10HKz 频偏处(典型值)
时钟输出分频比	只有STR 选件支持

*¹ 11.2Gb/s 速率以上，时钟输出频率为数据率/2。详见P13 表格

数据输出

特性	说明
数据率范围
BSA85C	0.1-8.5 Gb/s
BSA125C, CPG	0.1-12.5 Gb/s
BSA175C, CPG	0.5-17.5 Gb/s
BSA260C, CPG	1-26 Gb/s
码型格式	NRZ
极性	正常或反相
可变交叉点电平范围	25 to 75%
码型
硬件码型	工业标准的PRBS码型: 2n – 1 where n = 7, 11, 15, 20, 23, 31
RAM 码型
BSA85C       BSA125C, CPG       BSA175C, CPG       BSA260C, CPG	128b~128Mb。每个A/B 页面中A 或B各有32Mb，共两组A/B 页面。单页面128Mb
码型数据库	基于K28.5 或CJTPAT 码型的SONET/SDH, Fibre Channel 码型; 2n 码型，n=3,4,5,6,7,9; 2n标记密度码型, n=7,9,23;其他
误码插入
长度	1,2,4,8,16,32,64 长度突发序列
频率	单词或者重复

数据, 时钟 幅度s and Offsets

特性	说明
配置	差分输出，差分每一路可独立设置端接、幅度和偏置
接口	DC 耦合，50 欧姆反向端接。APC-3.5 连接器。可选校准到75欧姆端接，其他阻抗通过面板输入。可更换的Planar Crown?适配器，可换为其他类型连接器。
预设逻辑电平	LVPECL, LVDS, LVTTL, CML, ECL, SCFL
端接电压	–2V ~ 2 V 预设值：1.5V，1.3V，1.0V，-2V，AC 耦合
允许的幅度、端接和偏置电压	参见图1 和图2

数据、时钟波形性能

型号	上升时间	抖动
BSA85C	25 ps (), 23 ps (典型) (10-90%)	<10 ps 峰峰值 (典型值, 对于 ≥1 Gb/s数据) <0.025 UI (典型值, 数据率 <1 Gb/s)
BSA125C, CPG
BSA175C, CPG
BSA260C, CPG		8 ps 峰峰值 (典型值,数据率为 25.078 Gb/s 数据率)

时钟/数据延迟

特性	说明
范围	(以下情况全部大于1比特周期)
≤ 1.1 GHz	30 ns
> 1.1 GHz	3 ns
分辨率	100 fs
自校率	在时间测量时，当温度或者比特率改变，推荐进行仪器自校准。校准过程小于10s

码型发生器辅助连接器

前面板码型发生器连接

外部时钟输入

特性	说明
允许外部输入时钟信号同步BERTScope。 带有压力测试选件的模块可以对输入的时钟增加损伤，包括当外部输入时钟信号 有超过5000ppm 的SSC 的情况。
频率范围
BSA85C	0.1 to 8.5 GHz
BSA125C, CPG	0.1 to 12.5 GHz
BSA175C, CPG	0.5 to 17.5 GHz
BSA260C, CPG	1 to 26 GHz
定额功率	900 mVpp (+3 dBm)
功率	2.0 Vpp (+10 dBm)
回波损耗	优于 –6 dB
接口	50 欧姆SMA 母头，DC 耦合，可选的端机电压

HF 抖动(仅在STR 选项中有效)

特性	说明
两个抖动输入端中的一个。可以插入所需的SJ、RJ 和BUJ
频率范围	DC 到1.0 GHz
抖动输入幅度	0.5UI
输入电压范围	额定电压0~2Vpp(10dBm) 非损伤电压6.3Vpp(20dBm)
数据率范围	8.5Gb/s，11.2Gb/s(BSA125C,CPG)，17.5G 或者22Gb/s
接口	SMA 母头, 50 欧姆, DC 耦合, 端接电压0V

子速率时钟输出

特性	说明
BERTScope 标配型号输出4 倍分频时钟 BERTScope STR 选项提供有额外分频时钟输出的性能
频率范围	0.125到3.125GHz(STR 选项可到12.5GHz)
幅度范围	额定电压1Vp-p，偏置0V
跳变时间	<500 ps
接口	SMA 母头, 50 欧姆, DC 耦合, 端接电压0V

触发输出

特性	说明
提供了脉冲触发输出到外部仪器。有两种模式： 1. 时钟分频模式：每256 个时钟速率输出一个脉冲 2. 码型模型：PRBS 码型中可编程脉冲输出位置，或者固定脉冲输出位置(RAM 码型) 此模块被选用安装后，就可进行压力调制
小脉冲宽度	128 个时钟周期(模式1) 512 个时钟周期(模式2)
跳变时间	<500 ps
抖动(p-p,数据到触发)	<10 ps, 典型值(BSA175C, CPG 和 BSA260C, CPG)
输出幅度	>300 mVp-p,偏置 650 mV
接口	50 欧姆 SMA 母头

后面板码型发生器接口

码型启动输入

特性	说明
用于多台仪器同时发送码型时使用.
逻辑电平	LVTTL (<0.5 V 低, >2.5 V 高)
门限电平	+1.2 V 典型值
非损伤输入电压范围	–0.5 V to +5.0 V
小脉冲宽度	128 连续时钟周期
重复率	512 连续时钟周期
接口	SMA 母头， >1K 欧姆阻抗，端接到0V

页面选择输入

特性c	说明
在A-B页面选择模式中，可以通过外部控制码型。软件控制使用上升沿或下降沿触发，码型A 完成后连续码型B，或者返回码型A 运行码型B
逻辑电平	LVTTL (<0.5 V 低, >2.5 V 高)
门限电平	+1.2 V 典型值
非损伤输入电压范围	–0.5 V ~ +5.0 V
小脉冲宽度	一个码型长度
接口	SMA 母头， >1K 欧姆阻抗，端接到0V

正弦干扰(Sinusoidal Interference)输出(仅对STR 选件有效)

特性	说明
正选抖动从内部发生器输出。可以在外部ISI 干扰后应用正弦干扰。
频率范围	0.1-2.5 GHz
输出电压	0-3 Vp-p
接口	SMA 母头， >1K 欧姆阻抗，端接到0V

低频抖动输入(仅对STR 选件有效)

特性	说明
允许使用外部低频抖动源对输出的码型加损伤
频率范围	DC 到 100 MHz
抖动幅度范围	1.1ns，可以和其他内部低频调制一起使用
输入电压范围	额定电压0~2 Vp-p(10 dBm) 非损伤电压 6.3 Vp-p (20 dBm)
数据率范围	11.2Gb/s(BSA125C，CPG)或者22Gb/s
接口	SMA 母头，50 欧姆，DC 耦合到0V

低频正选抖动输出(仅对STR 选件有效)

特性	说明
允许两台BERTScope 定相输出，一个同步、另一个反相
频率	通过用户界面设定SJ
幅度	2 Vp-p, 偏置 0 V
接口	SMA 母头

外参考输入(对XSSC 选件，BSA85C、BSA175C，CPG 或者BSA260C，CPG 有效)

特性	说明
锁定外部仪器参考时钟
频率	10, 100, 106.25, 133.33, 156.25, 166.67, 或 200 MHz
幅度	0.325 ~ 1.25 Vp-p (–6 to +6 dBm)
接口	SMA 母头 50 欧姆 , AC 耦合

外参考输出(对XSSC 选件，BSA85C、BSA175C，CPG 或者BSA260C，CPG 有效)

特性	说明
提供频率参考源输出
配置	单端(Ref-OUT 未使用)(BSA125C, CPG) 差分(BSA85C, BSA175C, CPG, BSA260C,CPG)
频率	10, 100, 106.25, 133.33, 156.25, 166.67, 或 200 MHz
幅度	每输出端口额定输出1 Vp-p (+4 dBm) 差分2 Vp-p
接口	SMA 母头 50 欧姆 , AC 耦合

时钟路径细节

BSA85C

BSA85C 系列带压力测试能力模块的时钟路径功能框图


以数据率为单位，使用内部时钟，BSA85C可用时钟及子速率时钟输出分频比***

BSA125C, CPG, BSA175C, CPG, 和 BSA260C, CPG

BSA125C,CPG, BSA175C, CPG, 和BSA260C, CPGBSA85C系列带压力测试能力模块的时钟路径功能框图

* 该端口也可用于全速带抖动时钟的输出

** 对于相应的模块，压力可以增加到外部时钟。工作速率1.5G~11.2Gb/s。外部时钟的占空比必须是50% ± 2%

*** 在整个速率段内，列出的所有的比例对于外部时钟都是有效的，仅对内部时钟有限制。小的时钟频率输出100MHz。在该频率下的操作未经过校准

 

当时钟速率≥ 11.2Gb/s 时，BSA125, BSA175, and BSA260型号使用内部双倍数据率(DDR)构架。时钟输出将是数据率的1/2。

外部时钟可指定为全速或半速率。当选择全速率时，并且输入时钟频率大于等于11.2GHz 时，码型发生器将工作在DDR 模式。

这些分频比仅应用在内部时钟情况。如果选择1/2时钟输出，或者当数据率≥ 11.2Gb/s 时，外部时钟将输出分频比将是1/2。

对于主时钟输出小的数据率要求是500Mb/s。当工作在分频速率低于500Mb/s 时，输出未经过校准。

可供选择的主时钟多速率和子速率分频比。BSA125C,CPG,BSA175C, CPG, 和BSA260C, CPG 系列

数据率 (Gb/s)	主时钟分频比	子速率时钟输出*2
500-750 Mb/s	1, 2, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 12, 14, 16, 18, 20, 24, 32, 36	1, 2, 4
0.75-1.5 Gb/s	1, 2, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 12, 14, 16, 18, 20, 24, 25, 28, 30, 32, 35, 36, 40, 42, 45, 48, 54, 56, 64, 72, 81	1, 2, 4, 8
1.5-3 Gb/s	1, 2, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 12, 14, 16, 18, 20, 24, 30, 32, 32, 35, 36, 36, 40, 42, 45, 48, 50, 54, 56, 60, 64, 70, 72, 80, 81, 84, 90, 98, 108, 112, 126, 128, 144, 162	1, 2, 4, 8, 16
3-6 Gb/s	1, 2, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 12, 14, 16, 18, 20, 24, 30, 32, 32, 35, 36, 36, 40, 42, 45, 48, 50, 54, 56, 60, 64, 70, 72, 80, 81, 84, 90, 98, 100, 108, 112, 120, 126, 128, 140, 144, 160, 162, 168, 180, 192, 196, 216, 224, 252, 256, 288, 324	1, 2, 4, 8, 16, 32
6-11.2 Gb/s	1, 2, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 12, 14, 16, 18, 20, 24, 30, 32, 32, 35, 36, 36, 40, 42, 45, 48, 50, 54, 56, 60, 64, 70, 72, 80, 81, 84, 90, 98, 108, 112, 126, 128, 140, 144, 144, 160, 162, 162, 168, 180, 192, 196, 200, 216, 224, 240, 252, 256, 280, 288, 320, 324, 360, 384, 392, 432, 448, 504, 512, 576, 648	1, 2, 4, 8, 16, 32, 64
11.2-12 Gb/s	2, 4, 8, 10, 12, 14, 16, 18, 20, 24, 28, 32, 36, 40, 48, 60, 64, 64, 70, 72, 72, 80, 84, 90, 96, 100, 108, 112, 120, 128, 140, 144, 160, 162, 168, 180, 196, 200, 216, 224, 240, 252, 256, 280, 288, 320, 324, 336, 360, 384, 392, 432, 448, 504, 512, 576, 648	2, 4, 8, 16, 32, 64
12-26 Gb/s	2, 4, 8, 10, 12, 14, 16, 18, 20, 24, 28, 32, 36, 40, 48, 60, 64, 64, 70, 72, 72, 80, 84, 90, 96, 100, 108, 112, 120, 128, 140, 144, 160, 162, 168, 180, 196, 216, 224, 252, 256, 280, 288, 288, 320, 324, 324, 336, 360, 384, 392, 400, 432, 448, 480, 504, 512, 560, 576, 640, 648, 720, 768, 784, 864, 896, 1008, 1024, 1152, 1296	2, 4, 8, 16, 32, 64, 128

*² 数据率小于11.2Gb/s 时，子速率时钟连接器也输出全速率带压力时钟；数据率大于等于11.2Gb/s 时，输出半速率带压力时钟。

带压力眼图的码型发生器

• 对内部或外部时钟，灵活、集成的施加眼图损伤
• 隐藏了测试的复杂性，但有不失灵活简单的特性
• 支持丰富的标准一致性测试和外部ISI 滤波器:
• • OIF CEI
  • 6 Gb SATA
  • PCI Express^?
  • XFI
  • USB 3.0
  • SONET
  • SAS 2
  • XAUI
  • 10 and 100 Gb Ethernet
  • DisplayPort
• 可以增加同相位或反相的正弦干扰，或者可以输出到外部同ISI 参考通道合成
• 支持OIF CEI 等规范要求的正弦抖动(SJ)相位锁定(两台BERTScope 之间同相或反相锁定)

灵活的外部抖动干扰

• 前面板高频抖动输入端口-输入抖动频率从DC到1GHz， 幅度0.5UI
• 后面板外部SJ 低频抖动输出端口- 输入抖动频率从DC 到100MHz，幅度1ns
• 后面板SJ 输出
• 后面板正弦干扰输出端口

注意: 内部的RJ，BUJ 和外部的高频抖动输入合成幅度0.5UI，合成抖动中的每一项幅度0.25UI。后面板低频抖动输入可以增加更多的抖动；外部低频抖动(见第5 页)，内部低正弦频抖动到10MHz 频率(见下表)，PCIe LFRJ 和PCIeLFSJ(见第8 页，XS 选项)抖动幅度限制1.1ns。这些限制对XSSC 选项(见第8 页)的相位调制无效。

幅度和ISI 损伤

ISI

外部增加：例如，长的同轴电缆，或者4阶Bessel-Thompson滤波器，-3dB 点等于0.75* 数据率

需要模拟电路板耗散的应用，BSA12500ISI 差分ISI 生成板提供模拟电路板走线损耗

正弦干扰

• 支持BERTScope 全速率范围的应用
• 100 MHz 到 2.5 GHz
• 100 kHz 调节步进
• 电压调节范围 0 ~ 400 mV
• 共模或差分
• 可用外部SI 从后面板SMA 输入，单端幅度0~3V，可在软件界面中调节，和内部SI 同样的频率和调节步进

抖动损伤

有界非相关性抖动(BUJ)

• 支持速率从1.5G 到11.2Gb/s(BSA125C，CPG)或者22Gb/s，622Mb/s 性能受限
• 内部PRBS7 发生器
• 可调幅度带0.5UI
• 100 Mb/s 到 2.0 Gb/s
• 可供选择带限滤波器(如下表)

BUJ 速率	滤波器
100 到 499	25 MHz
500 到 999	50 MHz
1,000 到 1,999	100 MHz
2,000	200 MHz

随机抖动

• 支持速率从1.5G 到11.2Gb/s(BSA125C，CPG)或者22Gb/s，622Mb/s 性能受限
• 可调幅度带0.5UI
• 带宽限制10MHz~1GHz
• Crest factor 为16(其高斯分布至少到8 倍标准偏差范围，或 误码率水平达到10^–16)

正弦抖动

数据率	内部SJ 频率	内部SJ 幅度
11.2 Gb/s(BSA85C, BSA125C) 或 17.5 Gb/s	1 kHz 到 10 MHz*3	1100 ps
	10 MHz to 100 MHz	200 ps
17.5-26 Gb/s	1 kHz to 100 MHz	84 ps

*³可以和其他的低频调制组合在一起使用。见第13 页备注

正弦抖动幅度调节范围如上表所示。详见下边压力选项中更多的SJ 性能

其他的压力选项

Phase 调制 范围


SSC 调制

增强扩频时钟选项(STR 选项和/ 或XSSC 选项)

特性	说明
直接增加时钟综合器调制输出-调制将影响主时钟和子速率时钟(忽略子速率时钟输出的选择)，输出数据和触发输出
模式	SSC 或者相位调制(正弦)
数据速率范围	BERTScope 全速率
SSC 波形形状	三角波或正弦波
SSC 调制频率	20 kHz 到 40 kHz
SSC 调制范围	12,500 ppm at 6 Gb/s 6,200 ppm at 12 Gb/s 6,000 ppm at 12.5 Gb/s and above 较低时钟频率时请参见SSC调制图
SSC 调制	1 ppm
SSC 调制类型	向下扩展，中间扩展，向上扩展
PM 频率范围	10 Hz ~ 160 kHz
PM 频率分辨率	1 Hz

PM 调制范围- 调制频率10HZ~2KHz

数据率	调制
>6 Gb/s	6000 UI
3 to 6 Gb/s	3000 UI
1.5 to 3 Gb/s	1500 UI
0.75 to 1.5 Gb/s	750 UI
375 to 750 Mb/s	375 UI
187 to 375 Mb/s	187.5 UI
100 to 187 Mb/s	93.75 UI
调制频率>2KHz 请参见相位调制范围图

F/2 抖动生成选线(F2 选项，需要STR 选项)

特性	说明
在2路及2路以上的复用系统中，可能会有F/2 或子速率抖动。这种抖动是由于复用时钟的不对成型导致，所有偶数比特脉冲宽度和奇数比特宽度不一致。不像传统的DCD，F/2 抖动时和比特的逻辑状态时独立的。F/2 抖动时目前比较新的标准，如802.3ap(10G 背板以太网)中所强调的测试项目
支持的数据率	8.0 和 10.3125 Gb/s
调制范围	0~5.0% UI

扩展压力产生选项(PCISTR 选项)

特性	说明
该选项增加了两种PCIe G2 标准要求的Rx 端一致性测试时需要的抖动类型，BERTScope 内部产生
时钟频率	11.2 Gb/s
LFRJ 调制范围	0-1.1 ns*3
LFRJ 频率范围	带限10KHz~1.5MHz，按照PCIE Gen2规范滚降
LFSJ 调制范围	在 5 Gb/s 时0~368 ps*3
LFSJ 频率范围	1-100 kHz

*³可以和其他的低频调制组合在一起使用。见第13 页Note

特性	说明
扩展压力选项增加了RJ 生成带宽的选择
RJ 频率, 正常模式	带限MHz ~ 1 GHz
RJ 频率, PCIE 模式	带限 1.5~100MHz，按照PCIE Gen2规范滚降

误码检测器

时钟和数据输入

时钟输入

特性	说明
配置	Single ended
频率范围
BSA85C	0.1-8.5 GHz
BSA125C	0.1-12.5 GHz
BSA175C	0.5-17.5 GHz*4
BSA260C	1-26 GHz*4

*⁴数据率大于11.2Gb/s 时可以使用全速或半速时钟

数据和时钟接口

特性	说明
连接器	APC-3.5 Planar Crown?
阻抗	50 欧姆
门限电压	–2 to +3.5 V
门限预设	LVPECL, LVDS, LVTTL, CML, ECL, SCFL
端接电压	可调, –2 V 到 +3 V 预设: +1.5, +1.3, +1, 0, –2 V, AC 耦合
非损伤输入	–3 Vpeak, +4 Vpeak, a任何连接器情况下

时钟/数据 延迟

特性	说明
范围	((以下情况全部大于1 比特周期)
≤ 1.1 GHz	30 ns
> 1.1 GHz	3 ns
分辨率	100 fs
自校准	在时间测量时，当温度或者比特率改变，推荐进行仪器自校准。校准过程小于10s

数据输入

特性	说明
数据率范围
BSA85C	0.1-8.5 Gb/s
BSA125C	0.1-12.5 Gb/s
BSA175C	0.5-17.5 Gb/s
BSA260C	1-26 Gb/s
配置	差分
格式	NRZ
极性	同相或反相
门限电平对其	自动设置到差分信号交叉点
灵敏度
单端	100 mVp-p (典型值)
差分	50 mVp-p (典型值)
输入信号摆幅	2 Vp-p
内部跳变时间	16ps(10%-90%)，单端(等效20GHz 检测器带宽)。在信号输入端测量得到，ECL电平
码型
硬件 码型	工业标准的PRBS 码型. 2n – 1 , n = 7, 11, 15, 20, 23, 31
RAM 码型
用户定义	128b to 128Mb, 128b 步进
码型数据库	基于K28.5 或CJTPAT 码型的SONET/SDH, Fibre Channel 码型；2n码型，n=3,4,5,6,7,9；2n标记密度码型，n=7,9,23；其他
RAM 码型捕获	捕获输入数据，多存储128Mb。编辑所捕获的数据，送到码型发生器或者误码检测器，或向二者同时发送
捕获 模式
长度捕获	1 到1,048,576 个字。默认1 个字。每个字128bit
触发捕获	当后面板的“检测启动”置高时开始捕获，直到存储满或“检测启动”变低时停止
触发捕获固定长度	当后面板的“检测启动”置高时开始捕获，直到所设定存储器长度满时停止
同步
自动重新同步	用户可指定在字中出现1个或多个误码时尝试重新同步
手动同步	手动发起重新同步命令
码型匹配
Grab ‘n’ Go	误码检测器捕获指定长度信号，并和下采集的数据进行比较(快速的方法，但可能漏失逻辑错误)
Shift-to-Sync	误码检测器比较采集的数据和RAM 中的数据。通过一个bit 的位移没有发现匹配的话，则再次比较(比较速度较慢，但是)
误码检测器基本测量项目	BER, 字节接收, Re-syncs, 被测码型发生器和误码检测器时钟频率

误码检测器辅助输入

前面板误码检测器连接端口

误码相关标记输入(Error Analysis)

特性	说明
允许外部输入信号在误码数据集中提供时间标记
逻辑电平	LVTTL (<0.5 V 低, >2.5 V 高)
门限电平	+1.2 V
小脉冲宽度	128 时钟周期
重复速率	512个连续的时钟周期
频率	<4000 标记/s
接口	BNC 母头, >1 k欧姆 端接到 0 V

消隐输入

Bertscope 突发码流分析时序-BERTScope 字的长度是128 个比特。上图以PRBS payload 举例。直到128 比特的边界字发生，才开始比特的计数。这意味着在消隐脉冲跳变后的127 比特将被忽略。对于PRBS，典型的同步需要5 个字，或640 个比特。同样，当消隐脉冲再次跳变后，将继续对多127 个位进行比特测量RAM 码型的同步时间将会更长。

特性	说明
用于循环回路光线试验，或者当链路处在训练过程中。在该输入为有效时可忽略误码。自节计算、误码计算和BER都不进行计数。当重新计数开始时，re-sync 将不会发生。
逻辑电平	LVTTL (<0.5 V 低, >2.5 V 高)
门限电平	+1.2 V
小脉冲宽度	128 时钟周期
重复速率	512 个连续的时钟周期
接口	BNC 母头, >1 k欧姆，端接0 V

误码输出

特性	说明
当误码检测到后输出一个脉冲。当进行长时间观测时，用以触发警报等。
小脉冲宽度	128 时钟周期
跳变时间	<500 ps
输出幅度	额定值：1000mV0V(低)到1V(高)
接口	SMA 母头

触发输出

特性	说明
提供了脉冲触发输出到外部仪器。有两种模式： 1. 时钟分频模式：每256 个时钟速率输出一个脉冲 2. 码型模型：PRBS 码型中可编程脉冲输出位置，或者固定脉冲输出位置(RAM 码型)
小脉冲宽度	128 时钟周期 (模式 1) 512 时钟周期 (模式 2)
跳变时间	<500 ps
输出幅度	>300 mV 幅度，偏置650 mV
接口	50 欧姆 SMA 母头

误码检测器后面板连接器

检测启动输入*⁵

特性	说明
用于触发采集、检测开始。高电平有效.
逻辑电平	LVTTL (<0.5 V 低, >2.5 V 高)
门限电平	+1.2 V
小脉冲宽度	128 连续时钟周期
重复率	512连续时钟周期
接口	SMA 母头, >1 k欧姆 端接到0 V

*⁵ BERTScope 码型发生器上无该接口

用户软件界面

可用性提升到新高度

UI 设置界面

• 简单向导
• 符合使用逻辑的布局和操作
• 界面之间切换方面灵活
• 丰富的测试相关信息
• 用户输入敏感，用颜色提醒用户输入数据的有效性

编辑界面

编辑界面

• 支持标准码型的编辑和AB 页面的选择，同时支持模板编辑
• 数据可以二进制、十进制和十六进制显示
• 支持可变的赋值，重复循环，PRBS 序列初始值
• 捕获和编辑输入的数据-例如根据实际的数据制作一个重复的码型
• • 可以通过触发、长度或者触发固定长度的方式捕获数据
  • 捕获数据单位是字，一个字是128比特。例如捕获127个PRBS7(127 比特长)的字，总共比特长度是16,256

BERTScope 内建的参数测量项目

全系列的BERTScope 都支持眼图和模板测试，以及误码检测

眼图

• 280×350 像素显示
• 深度捕获
• 自动测量项目有：
• • 上升时间
  • 下降时间
  • Unit Interval (数据和时钟)
  • 眼幅度
  • 0 和1 的噪声电平
  • 眼宽
  • 眼高
  • 眼图抖动 (峰峰值或有效值)
  • 0 Level, 1 Level
  • 消光比
  • 垂直眼图闭合代价(VECP)
  • 暗电平校准
  • 信噪比
  • 峰峰值、电压、小电压、交叉点电压
  • 上升和下降交叉点电平(飞秒)
  • "0" 和"1" 过冲
  • 平均电压和功率
  • 交叉点幅度、0 和1 噪声电平
  • 光调制度(OMA)
  • 采样测试
  • 偏置电压
  • 去加重比例

模板测试

• 标准模板库(例如XFP，用户可自定义模板)
• 模板裕量测试
• 将测量得到的BER 轮廓作为过程控制的模板
• 比传统的取样示波器采集深度至少深1000 倍，确保看到罕见的异常现象

光模块

可在BERTScope 检测端口外部增加光参考接收机。通过用户界面简单方便的设置和保存接收机的参数。一旦完成设置物理层，相应的物理层参数单位将转换为dBm、μW 或mW。耦合方式AC 和DC 耦合，可以进行暗电平校准。

对于电信号，如果在外部衰减，可输入相应衰减量适当的缩放眼图比例

可变深度的眼图的模板测试

对于眼图和模板测试，测试数据的深度可以通过手动调节；仪器采集到相应的数据量的样本后将会停止。深度范围从2,000到1,000,000 比特(完整的波形)。默认模式是连续采集，随着时间逐渐加深眼图或模板测试深度。

物理层测试选项

BER 轮廓测试

• 为了相关性，执行和眼图测量一样的采集
• 为了的样点提供延时校准
• 自动比例调整，一键式测量
• 从测量的数据中推算轮廓，增加实际数据的测试深度，重复更新轮廓曲线
• 输出CSV 格式数据
• 从10^–6 到10^–16误码率水平范围内进行轮廓测试

基本抖动测量

• 按照T11.2 MJSQ BERTScan(也称为“Bathtub jitter”)方法进行测试和测量
• 快速的完成用户可指定误码率水平的总抖动推算，或直接测量
• 按照MJSQ 定义的方法分离确定性抖动和随机抖动
• 为了的样点提供延时校准
• 输出CSV 格式数据
• 自动比例调整，一键式测量
• 用户指定的幅度的门限或自动选择门限电平
• 根据MJSQ 定义，当使用长码型可选择开始BER 以提高

Q-因子测量

• 一键式测量
• 易于观察系统噪声影响
• 输出CSV 格式数据

一致性轮廓输入测试

• 符合标准，例如XFP/XFI 和OIF CEI，验证Tx 端性能
• 将模板和BER 轮廓测量结果比较，快速简单确定被测设备是否通过BER 性能指标要求

实时数据分析选项

实时数据选项主要用于测试系统在线时数据传输性能。该选项可用于测试系统传输的码型未知或非重复的情况，还包括为匹配时钟速率而在数据流中插入idle位的情况。也可适用于探测线卡信号等等。这个选项使用两个前端判决电路中的一个，通过放置在眼图中心，判断数据是0 还是1。另外一个用于探测眼图外部以决定参数性能。这种方法不仅解决物理层的问题，而且可以鉴别由于协议引起的逻辑层问题。

实时数据选项可以能够使得在线数据进行BER 轮廓、抖动峰值和Q- 因子的测试。眼图测试可以不需要该选项，只需要提供外部的时钟即可。

实时数据分析选项需要物理层测试选项，必须使用全速率时钟。

PatternVu 均衡处理选项

PatternVu*⁶选项增加了下列强大的处理功能:

CleanEye是一种眼图显示模式，将平均处理后的数据进行眼图分析，可消除非数据相关性抖动分量。用户可以使用CleanEye 测量数据相关性抖动，如ISI 等，提供对复杂抖动的直观的表现形式。该选项在任何重复码型下有效，码型长度上限32,768 位。

单次波形数据值输出将CleanEye 输出以CSV 格式输出。该输出文件多包含105 比特位，可以通过Microsoft Excel 或其他仿真软件处理，如Stateye或MATLAB^?。该功能允许对实时数据的离线分析，以实现新在802.3aq 和LRM 10G 以太网标准要求的TWDP 的测试。

The FIR 滤波均衡处理器可以模拟通信链路，在数据显示之前应用一个软件线性滤波器，以观测和测量在Rx 端判决电路前的眼图性能。例如，FIR 滤波可以模拟背板系统的信号损耗，或者 模拟Rx 端的均衡器，简化Rx 侧的均衡器设计和测试。

滤波器的参数可用通过对一些列tap 的权重调节而改变。至多32个tap，间隔从0.1UI到1UI，可调整滤波器的形状。FIR滤波在任何重复码型下有效，码型长度上限32,768 位。

单沿抖动测量能够对速率大于3Gb/s的单个边沿进行深误码率抖动测量。单沿抖动峰值测量功能可以计算指定码型的单独边沿的抖动，要求重发码型，长度不超过32,768。测量得到的抖 动结果中，不包含数据相关性抖动，仅显示出非相关性抖动分量，如随机抖动(RJ)，有界不相关抖动(BUJ)和正弦抖动(PJ)。

灵活的测量可以让用户指定CleanEye波形中确切的位置进行高的幅度、上升时间、下降时间和加重比例的测试。可重新定义标准(PCI Express 和USB3.0)的测量的算法。

*⁶ PatternVu 工作在数据率要求高于900Mb/s

误码分析

误码分析是一些列和误码发生情况紧密联系在一起的的视图，能够简单、快速的发现潜在的问题。可以非常方便的在眼图的某个区域内放置BERTScope 采样点，探测在指定位置上的码型敏感度。例如，直接观测码型是否会导致信号边沿时刻的提前或滞后。

许多视图都标配在BERTScope 系列产品中。

分析视图

误码统计视图以bit 和burst 的统计来分析链路性能.


条状图显示了误码和误包随时间的变化。例如在做温度循环实验时，可以发现系统故障出现的规律。


码型敏感度视图时一个强大的工具，用以检查错误事件和码型之间的关系。能够显示出哪种码型序列有多的问题，支持PRBS 和用户自定义码型。

• 误码统计：以表格的形式显示误码和误帧数量及速率
• 条状图: 以条状图的形式显示误码和误帧速率
• Burst 长度:以直方图的形式显示不同码长的误码发生次数
• 误码间隔: 以直方图的形式显示误码发生之间的时间间隔
• 相关性: ：以直方图形式显示误码和用户自定义块大小，或外部标记信号之间的位置关系
• 码型敏感度:以直方图的形式显示不同码型位置上出现错误 的测试
• Block 错误:：以直方图显示数据间隔的次数(或用户指定block 大小)和在block 中出现误码次数的关系

误码定位捕获

特性	说明
实时分析	连续
误码记录容量	2GB
误码事件/ 秒	10,000
Burst 长度	32 kb

误码分析选项

前向误码纠错仿真

BERTScope 因为采用了的误码定位技术，在测试中可以确定每一个误码发生的位置。通过用假设误码纠错器，仿真内存块典型的纠错码，例如Reed-Solomon结构，以通过非相关数据通道的误码率测试，确定找到合适的FEC方法。用户可以设置误码纠错的力度，交织的深度以及确保符合流行的纠错硬件结构。

二维误码映射

通过发现到的误码，分析绘制出二维误码分布图。误码分布基于帧的大小或者复用器的宽度，分析出误码是否容易在帧的某个位置上，或者连接到复用器的并行总线中的某一个特定的bit位上。这个可视化的工具能够发现其他分析方法所无法观测到的误码。

抖动容限模板选项

许多标准要求测试在不同频率、不同幅度、不同调制的SJ 对Rx 的影响。BERTScope 内建的抖动容限功能通过用户自定义的容限模板，自动的完成这项测试。同时，BERTScope 还提供了许多标准的测试库供用户使用。

标准模板库：

• 10GBASE LX4 802.3ae 3.125 Gb/s
• 10 GbE 802.3ae 10.3125 Gb/s
• 40 GbE 802.3ba LR4 10.3125 Gb/s
• 100 GbE 802.3ba LR4/ER4 25.78125 Gb/s
• CEI 11G Datacom Rx Ingress (D) 11 Gb/s
• CGE Telecom Rx Egress (Re) 11 Gb/s*⁷
• CEI 11G Telecom Rx Ingress (Ri) 11 Gb/s*⁷
• CEI 11G Total Wander 11.1 Gb/s
• CEI 11G Total Wander 9.95 Gb/s
• CEI 6G Total Wander 4.976 Gb/s
• CEI 6G Total Wander 6.375 Gb/s
• CEI 25G Total Wander 25.78125 Gb/s
• FBB DIMM1 3.2 Gb/s
• FBB DIMM1 4.0 Gb/s
• FBB DIMM1 4.8 Gb/s
• FBB DIMM2 3.2 Gb/s
• FBB DIMM2 4.0 Gb/s
• FBB DIMM2 4.8 Gb/s
• Fibre Channel 1.0625 Gb/s
• Fibre Channel 2.125 Gb/s
• Fibre Channel 4.25 Gb/s
• Fibre Channel 8G 8.5 Gb/s
• Fibre Channel 16G 14.025 Gb/s
• OTN OTU-1 2.666G*⁷
• OTN OTU-2 10.709 Gb/s
• OTN(10BASE-R) 11.1 Gb/s
• SAS (SCSI) 1.5 Gb/s
• SAS (SCSI) 3 Gb/s
• SDH 0.172 STM-1 155M*⁷
• SDH 0.172 STM-16 2.4832 Gb/s*⁷
• SDH 0.172 STM-4 622 Mb/s*⁷
• SDH 0.172 STM-64 9.956 Gb/s*⁷
• SDH STM-16 2.48832 Gb/s*⁷
• SDH STM-64 9.9532 Gb/s*⁷
• SONET OC-48 2.48832 Gb/s*⁷
• SONET OC12 622 Mb/s*⁷
• SONET OC192 9.9532 Gb/s*⁷
• SONET OC192 9.95 Gb/s*⁷
• SONET OC3 155 Mb/s*⁷
• SONET OC48 2.4832 Gb/s*⁷
• USB 3.0 5 Gb/s
• XAUI 3.125 Gb/s
• XFI ASIC Rx In Datacom (D) 10.3125 Gb/s
• XFI ASIC Rx In Datacom (D) 10.519 Gb/s
• XFI ASIC Rx In Telecom (D) 10.70 Gb/s
• XFI ASIC Rx In Telecom (D) 9.95328 Gb/s*⁷
• XFI Host Rx In Datacom (C) 10.3125 Gb/s
• XFI Host Rx In Datacom (C) 10.519 Gb/s
• XFI Host Rx In Telecom (C) 10.70 Gb/s*⁷
• XFI Host Rx In Telecom (C) 9.95328 Gb/s*⁷
• XFI Module Tx In Datacom (B') 10.3125 Gb/s
• XFI Module Tx In Datacom (B') 10.519 Gb/s
• XFI Module Tx In Telecom (B') 10.70 Gb/s*⁷
• XFI Module Tx In Telecom (B') 9.95328 Gb/s*⁷

可调节的测试参数:

• BER confidence level
• Test duration per point
• BER threshold
• Test device relaxation time
• Imposition of percentage margin onto template
• Test precision
• Control over A/B Pattern switch behavior

还包括在每一个选择点上进行测试的能力，以及数据可以导出为截图或CSV 文件。

*⁷ 需要XSSC 选项.

Jitter Map 选项

用长码型抖动三角形测量法自动抖动分离

Jitter Map*⁸扩展了以BER为基础的抖动分离，除了按照Dual-Dirac 方法测量总体抖动(Tj)、随机抖动(Rj)和确定性抖动(Dj)，还可以将确定性抖动分析为更加详细的抖动类型。该选项也能 测量和分离极长码型上的抖动，例如PRBS31，假设系统受限运行在较短的同步数据码型上。

特点包括:

• DJ分离为有界非相关抖动(BUJ)，数据相关性抖动(DDJ)，码间干扰抖动(ISI)，占空比失真抖动(DCD)，子速率抖动(SRJ)*9和F/2(或F2)抖动
• 基于BER 的直接测试TJ，误码率水平可达10-12 甚至更深
• 分离相关和非相关性抖动，减小DDJ 和RJ 的混淆
• 可以在数据码型各自边沿上可视化RJ RMS 测量结果
• 支持100GbE 应用的J2 和J9 测试
• 支持更多的抖动分离类型：加重抖动(EJ)，非相关性抖动(UI)，数据相关性脉冲损伤(DDPWS)和非ISI 抖动
• 直观的抖动分离树显示

*⁸ jitter map 要求数据率大于900Mb/s

*⁹ 在BSA175 和BSA269 中，SRJ 和F/2 抖动速率支持11.2Gb/s

带压力实时数据选项

BERTScope 带压力实时数据选项帮助工程师实时的数据上增加各种各样的压力，以模拟在现实的环境中，观察被测系统的响应。使用带压力的实时测试数据能够测量系统性能的边界极限，增加系统设计的信心。

• 支持全系列BERTScope产品，包括正弦(SJ), 随机抖动 (RJ),有界非相关抖动(BUJ), 正弦干扰 (SI), F/2 抖动和扩频时钟(SSC)
• 支持的BERTScope 数据速率
• 数据率小于等于11.2Gb/s 时支持全速率时钟；高于11.2Gb/s时，支持半时钟速率

符号过滤选项(包含在STR 选项中)

通常在8b/10 编码系统中进行Rx 端loopback 测试中，对于输入数据流中可能有不确定个数的补偿时钟符号的情况，BERTScope 的符号过滤支持这样的异步的BER 测试，包括抖动容限测试在内。

• 支持异步Rx 端测试，如USB3.0，SATA 和PCI Express
• 自动过滤用户指定符号
• 对于高误码测量，误码检测支持一定数量的过滤比特
• 支持数据率11.2Gb/s

其他

计算机相关配置

特性	说明
显示	显示TFT 触摸屏，VGA 640X480
触摸屏	模拟电阻式
处理器	Pentium? P4 1.5 GHz 或更高
硬盘	40GB 或更高
DRAM	1 GB
操作系统	Windows XP
远程控制接口	IEEE-488 (GPIB) 或 TCP/IP

外部接口

• DVI/VGA 显示接口
• USB2.0(4 个。BSA175 前、后面板各2 个；其他型号前、后面板各一个)
• 100BASE-T 以太网
• IEEE-488(GPIB)
• 并行打印口
• RS232 串口
• PS2 鼠标键盘接口

物理特点

外观尺寸	毫米	英寸
高度	220	8.75
宽度	394	15.5
深度	520	20.375
重量	kg	lb.
净重	25	55
毛重	34.5	76
其他
功耗	<450 W
供电电压	90 to 240 V AC, 50 to 60 Hz

环境要求

特性	说明
预热时间	20 minutes
工作温度范围	10 ~ 40 °C
湿度	无水汽凝结 40 °C, 15 到 95%
环保标准	EU EMC Directive (CE-Marked) UL: Underwriters Labs (US) Certification CSA (加拿大)

维护

特性	说明
保修周期	1 年(可扩充3 年维保)
范围	根据SyntheSys判断进行硬件维修和替换。包括软件升级。在Menlo Park，California，USA 工厂修理
校准间隔	1 年

注意: 除非特别说明之外，都是20%-80% 上升时间。各项指标并以在预热20 分钟之后。Tektronix 保留更改指标的权力。

订货信息

误码率分析仪

BERTScope BSA 系列

型号

型号	说明
BSA85C	单通道BERTScope 8.5Gb/s 误码率测试仪
BSA125C	BERTScope 12.5Gb/s 误码率测试仪
BSA125CPG	BERTScope 12.5Gb/s 码型发生器
BSA175C	BERTScope 17.5 Gb/s 误码率测试仪
BSA175CPG	BERTScope 17.5 Gb/s 码型发生器
BSA260C	BERTScope 26.0 Gb/s 误码率测试仪
BSA260CPG	BERTScope 26.0 Gb/s 码型发生器

所有型号包括: 快速指南、电源线、鼠标、PS2“Y”型连接线、三条低损耗电缆以及DVI 适配器.

 

 

选项配置

Option	说明	BSA85C	BSA125C	BSA125CPG	BSA175C	BSA175CPG	BSA260C	BSA260CPG
F2	在8.5G/10.3125G 速率的F/2抖动生成(需要STR 选项)	X	X	X	X	X	X	X
STR	压力信号产生(包括ECC、MAP、PL、XSSC、JTOL 和SF 选项)	X	X	X	X	X	X	X
XSSC	扩展SSC 选项(包含在STR 选项中)	X	X	X	X	X	X	X
PCISTR	增加PCIE 扩展压力信号生成	X	X	X	X	X		X
J-MAP	增加抖动分离软件	X	X		X		X
ECC	增加误码纠错仿真软件(包含在STR 选项中)	X	X		X		X
JTOL	增加抖动铜线模板测试软件(包含在STR 选项中)	X	X		X		X
LDA	增加实时数据分析软件(包含在STR 选项中)	X	X		X		X
MAP	增加误码映射分析软件(包含在STR 选项中)	X	X		X		X
PL	增加物理层测试套件(包含在STR 选项中)	X	X		X		X
PVU	增加PatternVu 均衡处理软件	X	X		X		X
SF	增加符号过滤软件(包含在STR 选项中)	X	X		X		X
SLD	增加压力在线数据软件，支持12.5Gb/s	X	X		X		X
CA1	提供单次校准服务或在指定校准间隔时校准，以先到者为准	X	X	X	X	X	X	X
C3	三年校准服务	X	X	X	X	X	X	X
R3	三年校准服务(含包修期)	X	X	X	X	X	X	X
-CA1	提供单次校准服务或在指定校准间隔时校准，以先到者为准	X	X	X	X	X	X	X
-R1PW	保修期过后续保1 年	X	X	X	X	X	X	X
-R2PW	保修期过后续保2 年	X	X	X	X	X	X	X
-R3DW	保修期3 年(含保修期)从客户购买机器算起3 年周期	X	X	X	X	X	X	X

R推荐附件

时钟恢复仪器

附件	说明
CR125A	12.5 Gb/s 时钟恢复仪器
CR175A	17.5 Gb/s 时钟恢复仪器
CR280A	28.4 Gb/s 时钟恢复仪器

时钟恢复仪器选项

选项	说明	CR125A	CR175A	CR280A
PCIE	PCIE PLL 分析(需要12GJ，仅工作在2.5/5G)	X	X	X
HS	增加高灵敏度时钟恢复		X	X
XLBW	增加扩展环路带宽	X	X	X
12GJ	增加抖动频率分析	X
17GJ	增加17.5G 时钟恢复，带抖动频谱分析		X
28GJ	增加28.4G 时钟恢复，带抖动频谱分析			X
CA1	提供单次校准服务或在指定校准间隔时校准，以先到者为准	X	X	X
C3	三年校准服务	X	X	X
R3	三年校准服务(含保修期)	X	X	X
-CA1	提供单次校准服务或在指定校准间隔时校准，以先到者为准	X	X	X
-R1PW	保修期过后续保1年	X	X	X
-R2PW	保修期过后续保2年	X	X	X
-R3DW	保修期3 年(含保修期)从客户购买机器算起3 年周期	X	X	X

数字预加重处理器

附件	说明
DPP125	1-12.5 Gb/s 3阶数字预加重处理器

数字预加重处理器选项

选项	说明
4T	1-12.5 Gb/s 4阶数字预加重处理器
4T	1-17.5 Gb/s 4阶数字预加重处理器
4T	1-28 Gb/s 4阶数字预加重处理器
CA1	提供单次校准服务或在指定校准间隔时校准，以先到者为准
C3	三年校准服务
R3	三年维修服务(含保修期)
-CA1	提供单次校准服务或在指定校准间隔时校准，以先到者为准
-R1PW	保修期过后续保1 年
-R2PW	保修期过后续保2 年
-R3DW	保修期3 年(含保修期)从客户购买机器算起3 年周期

附件

选项	说明
100PSRTFILTER	100ps上升时间滤波器
BSA12500ISI	差分ISI 板
PMCABLE1M	高相位匹配电缆，长度1m
SMAPOWERDIV	SMA 功分器
PCIETB5G	PCI Express 测试台，支持2.5/5GT/s(BERTScope BSA85C，带CR和电缆、ISI板)
PCIETB125	PCI Express 测试台，支持12.5GT/s(BERTScope BSA85C，带CR和电缆、ISI板)
PCIETK	PCI Express 一致性测试接口套件
BSASATATEE	支持OOB 测试的BSA-SATA-Tee
SATATESTSW	SATA 一致性测试自动化软件
SATATESTPLUG	SATA plug 到SMA 电缆，长度80mm
SATATESTRECPT	SATA receptacle到SMA电缆，长度80mm
DP5400SKCTS	DisplayPort? Sink 端一致性测试方案
DP5400SKG	DisplayPort? Sink 端一致性测试方案， 不含信号发生器
DPSINKCTSG	DisplayPort? Sink 端一致性测试方案， 不含开关盒信号发生器
BSARACK	BSA 上架套件
BARACK	BA 上架套件

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65C-25444-0, 07-JUL-2010