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产品描述:AT-5000是新型的X射线镀层测厚仪。它采用先进的半导体探测器，能精准测试任何复杂的镀层结构，使用的定位系统，可以测试直径很小的样品。其强大的分析功能，足以在镀层测厚领域大显身手
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