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降落数值仪
描述:仪器简介: 真菌型降落数值仪 1960年Mr. Perten发明了降落数值仪,用于测定小麦发芽损坏程度及决定面粉中淀粉酶或麦芽的合理添加量。瑞典波通仪器公司生产的降落数值仪是用于国际贸易...
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